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パワー半導体デバイスの故障要因と高信頼化のための故障解析技術

パワー半導体デバイスの故障要因と高信頼化のための故障解析技術

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは、パワー半導体デバイスの高信頼化のために学んでおきたい、故障要因や加速試験・故障解析手法などについて、最新動向を含めて解説いたします。

開催日

  • 2018年11月26日(月) 13時00分 ～ 16時30分

受講対象者

  • パワー半導体デバイス、モジュールの技術者、開発者、品質担当者、管理者
  • パワー半導体材料メーカ、部品メーカの方

修得知識

  • パワーエレクトロニクスの基礎
  • パワー半導体デバイスの基礎
  • パワー半導体デバイスの高信頼化技術
  • 故障解析技術
  • パワー半導体デバイスの高信頼化に関する最近の動向

プログラム

　21世紀は最終的に消費されるエネルギーの大半が電力になると予想されており、まさに電気の時代の到来といえます。パワー半導体デバイスは、電力エネルギーを目的に合わせて変換する電子デバイスであり、家電製品からハイブリッド自動車、太陽光発電や風力発電、さらには直流送電など電力ネットワーク構築に欠かせないキーコンポーネントです。今後ますます拡大する需要に対応するため、パワー半導体デバイスの信頼性に対する要求も高まってきています。
　本講演では、パワー半導体デバイスの信頼性の考え方から、高信頼化に向けた加速試験および故障解析手法について、最近の動向を踏まえて解説します。

  1. パワーエレクトロニクス技術
    1. パワーエレクトロニクスとは
    2. パワー半導体デバイス
    3. 電力システムとパワーエレクトロニクス
  2. パワー半導体デバイスの信頼性
    1. 故障原因と故障事例
    2. 高信頼化の手法
    3. 故障モードと加速試験
    4. ミッションプロファイル
  3. 故障解析技術
    1. 加速試験
    2. 故障解析手法 (一般的技術から最新技術まで)
  4. 今後の展開
    • 次世代パワー半導体デバイスの信頼性
    • 質疑応答・名刺交換
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講師

  • 渡邉 晃彦 氏
    九州工業大学 工学研究院 電気電子工学研究系
    助教
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会場

東京流通センター

2F 第3会議室

東京都 大田区 平和島6-1-1
東京流通センターの地図
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主催

サイエンス＆テクノロジー 株式会社
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 38,000円 (税別) / 41,040円 (税込)
複数名
: 20,000円 (税別) / 21,600円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 20,000円(税別) / 21,600円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 38,000円(税別) / 41,040円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 40,000円(税別) / 43,200円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 60,000円(税別) / 64,800円(税込)
  • 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。
  • 他の割引は併用できません。
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