技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、信頼性試験の基本から考慮すべきポイント、故障解析のアプローチの仕方について、詳しく解説いたします。
信頼性試験は設計品質の正しさを証明し、市場での不具合を未然防止する手段ですが、規格や顧客要求の試験に合格すれば良いという認識で、試験辞退については深く考えずに実施されることが散見されます。
市場でユーザにご迷惑をおかけした後に、実は信頼性試験で検出すべき不具合であったという事例もあります。
このような不具合は製造上の問題ではないので、工場の検査では検出する事ができません。気づいた時には長期に亘って市場へ流出した後なので多大な損失につながります。
事前に設計FMEAで故障を抽出しても、その故障を評価できる試験条件になってない場合、また、判定方法が不適切な場合には、こしょうを見逃してしまう事になります。
信頼性試験で考慮すべきポイントを学び、信頼性試験の基本/理論、及び故障解析のアプローチの仕方も合わせて解説します。
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
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2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
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2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2010/10/28 | 薬物動態(「ヘ」項)試験におけるデータ・試験の信頼性確保・保証とQC・QA手法/タイミング |
2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |