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電子部品・部材からのアウトガス発生要因と測定・評価技術

電子部品・部材からのアウトガス発生要因と測定・評価技術

東京都 開催 会場 開催 個別相談付き

概要

本セミナーでは、各種揮発性ガスの分析技術について、実施例を含めながら解説し、アウトガス発生への温度や時間の影響についても詳解いたします。

開催日

  • 2013年5月27日(月) 10時30分 16時30分

受講対象者

  • 電子部品に関連する技術者・管理者・品質担当者
  • 化学汚染対策の担当者
  • クリーンルームの技術者・管理者

修得知識

  • アウトガス分析法の基礎
  • 温度とアウトガスの関係
  • アウトガスが製造プロセス、製品に及ぼす影響
  • アウトガスの評価方法

プログラム

 各種デバイスでは構成部材のアウトガスが製品の動作不良を引き起こす原因となっている。また、その製造環境であるクリーンルーム等では歩留管理の観点から化学汚染対策が必要であり、電子部品や部材からのアウトガスを把握し、低減化することが重要になる。
 本講演では、各種のアウトガス技術について実施例を含めながら説明を行なうと共にアウトガス発生への温度や時間の影響について説明する。加えて、アウトガス評価技術の応用例として減圧環境下でのアウトガス分析や有機エレクトロニクス分野で課題となっているガスバリア性評価や封止内部のガス分析等の技術を紹介する。

  1. アウトガス分析法の概要
    1. アウトガス評価が要求されている分野
    2. アウトガス分析の分類
    3. アウトガス試験と評価について
    4. 試験設備について
    5. 製品内部のアウトガス採取法
  2. 物質移動係数と物質伝達係数
    1. アウトガス発生挙動の概念
    2. 物質移動係数と物質伝達率
    3. アウトガス減衰モデル
    4. アウトガス量の変化モデル
  3. 温度とアウトガスの関係
    1. 温度と放散量
    2. 各種樹脂からのアウトガスと温度の関係
    3. アウトガス放散速度
    4. 室温でのアウトガス
    5. 放散量の減衰と温度
    6. トルエンの放散速度・放散量と評価
  4. 製造プロセス、製品に及ぼすアウトガスの影響
    1. 微粒子汚染と分子状汚染の影響
    2. 半導体プロセスへの影響
    3. 電子製品プロセスへの影響
    4. HDDへの分子状汚染の影響
  5. アウトガスの評価方法
    1. アウトガス中の有機汚染評価技術
    2. 基板表面に吸着した有機汚染評価技術
    3. 製造環境の管理、クリーンルーム構成部材での評価技術
    4. 減圧環境下でのアウトガス評価
    5. ガスバリア性評価
    6. 封止内部ガスの評価
    7. 電化製品からのホルムアルデヒド・VOC放散量
    8. 自動車分野におけるVOC
    9. 今後の課題
  • 質疑応答・名刺交換・個別相談

会場

江東区産業会館

第1会議室

東京都 江東区 東陽4丁目5-18
江東区産業会館の地図

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 47,600円 (税別) / 49,980円 (税込)

割引特典について

  • R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
    • 1名でお申込みいただいた場合、1名につき47,250円 (税込)
    • 2名同時にお申し込みいただいた場合、2名で49,980円 (税込)
    • 案内登録をされない方は、1名につき49,980円 (税込)
本セミナーは終了いたしました。

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