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2025/4/11 |
不良ゼロへのアプローチ |
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オンライン |
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2025/4/15 |
半導体デバイス製造工程の基礎 |
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オンライン |
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2025/4/15 |
化粧品品質安定性確保と評価の進め方・トラブル対応 |
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オンライン |
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2025/4/17 |
メタルレジストの特徴とEUV露光による反応メカニズム |
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オンライン |
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2025/4/21 |
事故や失敗事例から学ぶHAZOP実践講座 |
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オンライン |
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2025/4/21 |
品質管理の基礎 (4日間) |
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オンライン |
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2025/4/21 |
品質管理の基礎 (1) |
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オンライン |
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2025/4/22 |
トヨタに学ぶ変化点管理とDRBFMの実践 |
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オンライン |
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2025/4/22 |
先進半導体パッケージを理解するための三次元集積化技術の最新動向 |
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オンライン |
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2025/4/22 |
リソグラフィ技術・レジスト材料の基礎と微細化・高解像度に向けた応用技術、今後の展望 |
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オンライン |
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2025/4/22 |
FMEA/FTA/DRBFM (不具合未然防止) の基本と実践 |
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オンライン |
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2025/4/23 |
外観検査の概要、目視検査と自動検査の比較、その実際 |
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オンライン |
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2025/4/23 |
化粧品品質安定性確保と評価の進め方・トラブル対応 |
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オンライン |
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2025/4/23 |
非GLP試験での信頼性基準試験におけるリスクベースドアプローチを用いた信頼性保証 |
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オンライン |
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2025/4/24 |
AI、MI、機械学習、データサイエンスなどを用いた半導体・電気電子分野における開発効率化、製造および品質向上への活用 |
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オンライン |
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2025/4/24 |
品質とトラブル時のコストを考慮した「開発時の安全係数」と「量産時の検査基準」の決め方 |
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オンライン |
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2025/4/24 |
パワー半導体用SiCの単結晶成長技術およびウェハ加工技術の開発動向 |
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オンライン |
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2025/4/24 |
信頼性試験に役立つワイブル解析の基礎と実践 |
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オンライン |
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2025/4/24 |
半導体ウェット洗浄技術の基礎と乾燥技術、および最先端技術 |
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オンライン |
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2025/4/25 |
半導体製造におけるプロセスインフォマティクスの活用技術 |
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オンライン |
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2025/4/25 |
ヒューマンエラー (ポカミス) の未然防止・撲滅の考え方と効果的なポカヨケの進め方 |
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オンライン |
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2025/4/25 |
信頼性の基礎知識と寿命目標をクリアするための加速試験・寿命予測のポイント |
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オンライン |
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2025/4/25 |
品質管理の基礎 (2) |
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オンライン |
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2025/4/30 |
自動車の電動化に向けたシリコン、SiC・GaNパワーデバイス開発の最新状況と今後の動向 |
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オンライン |
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2025/4/30 |
ヒューマンエラー対策と生成AI新技術による保全の展望 |
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オンライン |
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2025/5/8 |
メタルレジストの特徴とEUV露光による反応メカニズム |
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オンライン |
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2025/5/12 |
信頼性物理に基づく故障解析技術 |
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オンライン |
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2025/5/13 |
実務に役立つQFD (Quality Function Deployment:品質機能展開) の基礎と活用に向けた具体的ポイント |
東京都 |
会場・オンライン |
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2025/5/13 |
リソグラフィ技術・レジスト材料の基礎と微細化・高解像度に向けた応用技術、今後の展望 |
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オンライン |
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2025/5/13 |
異常検知への生成AI活用と判断の標準化、高精度化 |
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オンライン |