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「実務に役立つ品質機能展開 (QFD) の基礎と活用へのポイント」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/5/29 外観検査の実務とポイント オンライン
2026/5/29 導入品 (アカデミアへの委託試験も含む) の信頼性基準対応と信頼性基準試験の生データの取扱い オンライン
2026/6/3 顧客経験価値から構想する新事業・商品開発の実践講座 オンライン
2026/6/4 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 オンライン
2026/6/8 ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 東京都 会場・オンライン
2026/6/8 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 オンライン
2026/6/9 外観目視検査の正しい進め方と精度向上すり抜け防止の具体的手法 東京都 会場・オンライン
2026/6/9 外観検査の実務とポイント オンライン
2026/6/9 市場の潜在ニーズを見つける方法 オンライン
2026/6/11 研究開発部門を対象とした情報収集のテクニック オンライン
2026/6/12 生成AIを活用した技術 & 知財戦略の策定方法 オンライン
2026/6/15 生成AIを活用した技術 & 知財戦略の策定方法 オンライン
2026/6/15 人間の認知限界に挑む「AI×ヒューマンエラー防止策」 オンライン
2026/6/16 ワイブル解析の基礎と結果の解釈および実務上の注意点 オンライン
2026/6/16 金属材料の疲労破壊メカニズムと疲労設計 オンライン
2026/6/17 人間の認知限界に挑む「AI×ヒューマンエラー防止策」 オンライン
2026/6/18 グローバル製品開発の問題と対策 オンライン
2026/6/18 自社保有技術・コア技術をベースとした革新的テーマ (製品アイデア) の創出活動 オンライン
2026/6/19 IPランドスケープ®実践に役立つ6つのハウツー講座 オンライン
2026/6/19 GxP領域データの (完全) 電子化プロセスとデータインテグリティ対応の具体的ポイント オンライン
2026/6/19 使用環境・製造条件の悪影響を受けないロバストな設計条件を見極める品質工学 オンライン
2026/6/19 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 オンライン
2026/6/22 IPランドスケープ®実践に役立つ6つのハウツー講座 オンライン
2026/6/22 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 オンライン
2026/6/24 トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 オンライン
2026/6/24 滅菌バリデーションセミナー オンライン
2026/6/25 GMP管理ではない (non-GMP) 原材料供給業者の管理方法・要求事項・品質契約と監査ポイント・ (非協力的な場合・監査不適合) 事例 オンライン
2026/6/26 市場クレームの深刻さに応じた検査基準・規格値と安全係数決定法 オンライン
2026/6/26 HAZOPの実施・運営と演習を踏まえたリスク評価 オンライン
2026/6/29 電子機器・部品の未然防止と故障解析 オンライン
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関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2022/2/28 With・Afterコロナで生まれた新しい潜在・将来ニーズの発掘と新製品開発への応用
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2018/5/31 “人工知能”の導入による生産性、効率性の向上、新製品開発への活用
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/7/16 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
2013/7/16 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験
1985/10/1 電子部品・電子装置の環境信頼性試験
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