技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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近年、顧客からの要望が多様化するためにリードタイム短縮が必要とされています。
生産部門の様々な改革は進んでいますが、現状以上に生産スピードを大幅に短縮する事は困難であり、開発・設計部門での『改革』が必要です。
「製品のQCDの80%は開発・設計で決まる」と言われており、改革には手戻りの無い開発プロセスを構築しなければなりません。そこで、開発の初期段階に負荷をかけ (フロントローディング) 、手戻りの無い開発プロセスを説明し、さらには改革に必要な手法を理解していただきたいと思います。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/19 | ウィスカに関する故障理論と故障メカニズム・対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/21 | 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン | |
| 2026/1/22 | 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 | オンライン | |
| 2026/1/22 | 外観検査の自動化技術とシステムの構築 | オンライン | |
| 2026/1/22 | 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン | |
| 2026/1/23 | 設計リードタイム短縮・納期遅延対策を実現させるプロジェクトマネジメント実践講座 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/26 | 食品の官能評価の基礎と手順・手法の勘所 | オンライン | |
| 2026/1/26 | 機械図面の見方・描き方、実務向け実践講座 | オンライン | |
| 2026/1/26 | 外観検査 (2日間) | オンライン | |
| 2026/1/26 | AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度の向上 | オンライン | |
| 2026/1/26 | 公差設計入門 | オンライン | |
| 2026/1/27 | 外観検査における目視検査 & 自動検査での品質チェック・ノウハウ | オンライン | |
| 2026/1/27 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/1/28 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/28 | 中国工場での製品・部品不良の未然防止 中国企業とのトラブル・ミスコミュニケーション回避術 | オンライン | |
| 2026/1/28 | 医薬品製造におけるヒューマンエラー・逸脱・インシデンツ事例と未然防止策 | オンライン | |
| 2026/1/28 | 形状設計ノウハウ講座 | オンライン | |
| 2026/1/29 | 実務に役立つQFD (Quality Function Deployment:品質機能展開) の基礎と活用に向けた具体的ポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/29 | デザインレビュー (DR) の基本とすすめ方、抜け漏れ防止策 | オンライン | |
| 2026/1/29 | Creo Parametric 3DA | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/9/25 | マシニングセンタ 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2013/9/25 | マシニングセンタ 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |