技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、データ解析手法の基礎から解説し、データ解析手法を使用するデータ前処理、および注意すべきこと (弱点)を解説いたします。
また、応用編では、産業応用事例を紹介しながら、実際に現場で役立つデータ活用術を解説いたします。
バズワードに振り回されている場合ではない。生産性向上や品質改善を実現するためには、設備や製品に関する知識とデータを活用しなければならず、そのための方法を身に付ける必要がある。製造現場で成果をあげるために、最先端の方法が必要とは限らない。むしろ、実績の豊富な方法を自分の道具箱に入れておき、それら適材適所で使うことが大切である。目標を達成できるのであれば、手法やモデルはできるだけ単純な方がよい。
そのような観点から、本講座の基礎編では、最低限知っておくべきデータ解析手法を解説し、それらを使用する際に注意すべきこと (弱点) を指摘する。また、地味だが重要なデータ前処理にも触れる。その上で、応用編では、産業応用事例を紹介しながら、転移学習やグレイボックスモデル (ハイブリッドモデル) を含めて、実際に現場で役立つデータ活用術を紹介する。さらに、データ解析で成果を挙げるための心得3箇条を示す。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/10/5 | 医薬品開発における日米欧のAI法規制/AI利用ガイダンスの現状と留意すべきポイント | オンライン | |
| 2026/10/6 | 技術者・研究者のための実験計画法入門 | オンライン | |
| 2026/10/6 | 侵害予防調査への生成AI活用とその進め方 | オンライン | |
| 2026/10/6 | 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 | オンライン | |
| 2026/10/6 | 異常検知・寿命予測へのデジタルツイン導入と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/10/7 | FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 | オンライン | |
| 2026/10/7 | 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 生成AIを活用したバイブコーディングの進め方 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 医療機器プロセスバリデーションの進め方と統計的手法・サンプルサイズ | オンライン | |
| 2026/10/8 | ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験、リテスト期間/有効期間の予測方法と統計学的解析による設定方法 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 生成AIを活用した製造業におけるヒューマンエラー・ポカミスの要因分析・未然防止 | オンライン | |
| 2026/10/9 | 医薬品安定性試験で必要となる統計解析対応 | オンライン | |
| 2026/10/9 | 医療機器プロセスバリデーションの進め方と統計的手法・サンプルサイズ | オンライン | |
| 2026/10/9 | 生成AIを活用した製造業におけるヒューマンエラー・ポカミスの要因分析・未然防止 | オンライン | |
| 2026/10/9 | プロンプト・AI関数・AIエージェントの3スキルで進める特許出願実務と特許データ分析 | オンライン | |
| 2026/10/9 | GMP試験及びCMC試験におけるOOS・OOT判断/発生時の対応 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/13 | 医薬品安定性試験で必要となる統計解析対応 | オンライン | |
| 2026/10/13 | 分析担当者が知っておくべき化学分析 基礎講座 | オンライン | |
| 2026/10/13 | 知って得する統計的寿命予測法のあれこれ | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |