技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、企業にとって必要不可欠な「不具合未然防止」の基本から実務での進め方までを解説、習得していただきます。
品質不具合を起こすようでは、ISO9001が目指す「顧客満足向上」に程遠く、さらには企業の存続にかかわる恐れまであります。そうならないためには「不具合未然防止」、すなわち不良発生への「予防処置」が必要です。ところが、日常は目の前の仕事に追われ、「未然防止はいずれ時間ができたときにやればいい」となっていませんか?今こそ、積極的に取り組むべきです。
本講座では「不具合未然防止」に有効な手法の基本を学び、実践演習で使い方のポイントを理解し、実務での活用を目指します。
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
学校教育法にて規定された国、地方公共団体、および学校法人格を有する大学、大学院の学生に限ります。
教職員や研究員、企業に在籍されている学生には適用されません。
また、当日学生証をご持参ください。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/7/8 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/7/9 | 半導体テスト技術の基礎と動向 | オンライン | |
2025/7/9 | 周辺視目視検査法の進め方と実施法 | 東京都 | 会場 |
2025/7/16 | 信頼性に役立つワイブル解析の方法とその使い方 | オンライン | |
2025/7/16 | 電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント | オンライン | |
2025/7/17 | 監査員の立場からみるGMP違反を防ぐ教育訓練とQuality Culture醸成 | オンライン | |
2025/7/17 | ヒューマンエラー対策と生成AI新技術による保全の展望 | オンライン | |
2025/7/18 | 信頼性試験と故障解析の理論と実践 | オンライン | |
2025/7/18 | ヒューマンエラー対策と生成AI新技術による保全の展望 | オンライン | |
2025/7/24 | トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 | オンライン | |
2025/7/25 | 電子部品・機構部品の主要な故障100超のモード・メカニズムとその対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/7/25 | WBGパワーデバイス・モジュールに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 | オンライン | |
2025/7/28 | 公差設計入門 | オンライン | |
2025/7/28 | WBGパワーデバイス・モジュールに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 | オンライン | |
2025/7/29 | DFMEA・DRBFMの基本と職場での活用法 | オンライン | |
2025/7/29 | 生産現場の統計学入門 | オンライン | |
2025/7/31 | DFMEA・DRBFMの基本と職場での活用法 | オンライン | |
2025/8/1 | 生産現場の統計学入門 | オンライン | |
2025/8/6 | 電子機器の信頼性加速試験の条件設定方法と耐用寿命予測の実際 | オンライン | |
2025/8/6 | 管理図 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |