技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
本セミナーでは、異物発生のメカニズム、異物不良をゼロにする方法、異物の経験則、具体的なノウハウについて、豊富な経験に基づき具体的な事例を交え、実践的に解説いたします。
本セミナーでは、異物不良ゼロの考え方と進め方、徹底清掃の進め方、清掃改善、異物対策と異物管理の経験則をご紹介します。これらアプローチは弊社が32年間のコンサルティングで異物不良を実際にゼロにし、その経験則を体系化したものです。その範囲は、半導体、液晶、電子部品、自動車、窯業、家電、精密機械、プラスチック成形、金属加工、金型と多岐にわたり、一般エリアからクリーンルームまですべての現場で適用可能です。
長年異物不良に悩まされているものづくり現場において、何か不足していたのか、やっているはずなのにどうして異物不良がなくならなかったのか、その要因を体系的に確認して頂くことができます。
また、現状はそこまで異物不良は深刻ではないものの「清掃しろ」と日常的に指示をしている現場や、年々顧客の要求品質が厳しくなってきた現場にも、必要となる内容です。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
ライブ配信・アーカイブ配信受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料 1,100円(税別) / 1,210円(税込) を頂戴します。
会場受講、ライブ配信、アーカイブ配信のいずれかをご選択いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/2/20 | データインテグリティ完全性担保の実践 | オンライン | |
| 2026/2/20 | ヒト嗅覚受容体を用いた次世代においセンシング : におい情報DXへの挑戦 | オンライン | |
| 2026/2/20 | 生成AIを活用した業務効率化と知的仕事術 | オンライン | |
| 2026/2/24 | 産業設備の保全/管理へのAI・機械学習の活用と実践ノウハウ | オンライン | |
| 2026/2/24 | ラボでの電子実験ノート管理・運用における経験からわかった製造や研究開発部門での電子情報管理の問題点・解決とDXの進め方 | オンライン | |
| 2026/2/24 | 生成AIを活用した業務効率化と知的仕事術 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 暗黙知を形式知にする生成AI時代のナレッジマネジメント | オンライン | |
| 2026/2/25 | AIエージェント×ビジネスデータ分析の基礎と実践 | オンライン | |
| 2026/2/25 | データ分析のポイントと生成AIの活用 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 医薬品の特許権利化と知財戦略 基礎講座 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 生成AIと知的財産で実現する新規用途探索・アイデア発掘実践講座 | オンライン | |
| 2026/2/26 | FMEA / FTA / DRBFM (不具合未然防止) の基本と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 食品開発・品質管理に役立つ官能評価の基礎と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | AIエージェント×ビジネスデータ分析の基礎と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 生成AIによる特許調査・分析の現状と実務への適用 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 生成AIを活用した研究データ解析と可視化手法 | オンライン | |
| 2026/2/26 | マテリアルズインフォマティクスの動向と少ないデータへの適用事例 | オンライン | |
| 2026/2/26 | AIによる二軸押出機の予兆検知・異常兆候把握とデータ活用 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2013/1/28 | 造粒・打錠プロセスにおけるトラブル対策とスケールアップの進め方 |
| 2012/9/4 | 食と健康の高安全化 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |