技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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なぜなぜ分析は、なぜを5回くりかえさなければならない? 5回以下だったらだめですか? 5回以上だったら良いのですか?
この質問に答えることができますか?
上記の二つの事例の再発防止をするために、あなたはどのようなアプローチをしますか?
本セミナーを受講していただければ、なぜなぜのくりかえしの回数の疑問が明確になります。また、再発防止のアプローチの方法と二度と問題を起こすことがない対策方法について学ぶことができます。
なぜなぜ分析の基本的な考えとなぜなぜ分析をするときに間違えやすい“べからず”10項目の演習を行います。根本原因は8つの会社の仕事の仕組みの中にあります。
また、本研修は、不良発生時の処置、真の原因だけでなく、組織の仕事のやり方やしくみの悪さ (8つの根本原因) を追求し、対策することにより再発防止する手順を習得することができます。開発設計、生産技術、生産工程、検査、出荷と出荷後のクレームとなった製品に対する実際にあり得る問題を演習いたします。
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/1/31 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/1/31 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/2/7 | 管理図 | オンライン | |
2025/2/14 | 外観目視検査の正しい進め方と精度向上すり抜け防止の具体的手法 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/2/18 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 速習 | オンライン | |
2025/2/18 | 重大事故防止・組織の風土醸成に貢献するノンテクニカルスキル教育の実践・訓練法 | オンライン | |
2025/2/20 | 人工知能技術:MTシステム 超入門 | オンライン | |
2025/2/20 | 実践疲労強度設計 | オンライン | |
2025/2/27 | GMP/GQP-QAが行うべき逸脱管理とCAPAの適切性の評価とチェックリストの活用 | オンライン | |
2025/2/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/2/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見) | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (2日間) | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (1) | オンライン | |
2025/3/24 | 信頼性の基礎 (2) | オンライン | |
2025/3/28 | 固体高分子の破壊とタフニング | オンライン | |
2025/3/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/3/31 | セラミックスの破壊規準と強度信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/3/31 | 抜取検査 | オンライン | |
2025/3/31 | 短期にソフトウェア品質を良くする「人間重視の品質改善術」 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |