技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
このセミナーは2021年6月に開催したセミナーのオンラインセミナー:オンデマンド配信です。
オンラインセミナーは、お申し込み日より14日間、動画をご視聴いただけます。
お申込は、2022年3月29日まで受け付けいたします。
(収録日:2021年6月24日 ※映像時間:約2時間43分)
「統計的品質管理を極める」全5コース申し込みもございます。
工場などのモノづくりの現場では、毎日のようにサンプリング試験 (抜取検査) が行われていますが、これを正しく運用するのは難しいのです。比較的普及しているAQL (Acceptable Quality Level) を用いた試験であっても、これを出荷試験に使うなどの誤用がよく見受けられます。
本コースでは代表的なサンプリング試験を網羅し、それを正しく使えることを目指します。良品・不良品などの二値データの取り扱いは基本的なところから解いていきますが、計量データ (数値データのことです) については「科学技術者のための統計入門」レベルの知識が必要です。ちなみに、サンプリング試験はJISを見れば簡単に設計できますが、自信を持って運用するにはOC曲線を使ってサンプリング試験の性能評価をする必要があります。OC曲線の読み方と作り方を平易に解説したテキストは見たことがありませんので、ここを平易に解説し、自分で計算できるようにすることも本セミナーの目的であります。
本セミナーの講演中にExcel実習を行う箇所がございます。
参加される際にPCをご持参いただけるとより理解度が深まります。
なお、演習は講師のデモも同時進行で行いますので、PCを持参されなくても支障ありません。
PC持参の場合は、Excelにアドインツールである「分析ツール」を組み込んできて下さるようお願い申しあげます。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/4/29 | 官能評価の基礎と評価用アンケート作成と解析のポイント | オンライン | |
2025/4/30 | 未知の異常も検知する人工知能MTシステム (MT法) 基礎と応用入門 | オンライン | |
2025/5/7 | 生成AIを活用したデータ分析の基礎とポイント | オンライン | |
2025/5/7 | HPLCの基礎と予想されるトラブルへの対応 | オンライン | |
2025/5/7 | 分析法バリデーション 入門講座 | オンライン | |
2025/5/8 | 図解と演習で学ぶ実験計画法入門 | オンライン | |
2025/5/9 | 技術者・研究者が基礎から学ぶ実験計画法 | オンライン | |
2025/5/12 | Excel業務の改善術入門 | オンライン | |
2025/5/12 | 信頼性物理に基づく故障解析技術 | オンライン | |
2025/5/13 | 実験・測定に必要な統計の基礎とデータ解析のポイント | オンライン | |
2025/5/13 | 実務に役立つQFD (Quality Function Deployment:品質機能展開) の基礎と活用に向けた具体的ポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/5/13 | 異常検知への生成AI活用と判断の標準化、高精度化 | オンライン | |
2025/5/13 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/5/14 | 生産管理、生産計画策定のための需要予測の導入とAIの活用 | オンライン | |
2025/5/15 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 速習 | オンライン | |
2025/5/15 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
2025/5/15 | 官能評価の基礎と高級感の解明・商品開発への活かし方 | オンライン | |
2025/5/15 | ラマン分光法の基礎と分析事例 | オンライン | |
2025/5/16 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/5/19 | 技術者・研究者向けのプロジェクト進行における異文化教育・コミュニケーション能力向上のポイント | オンライン |
発行年月 | |
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1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |