技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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MTシステムは統計数理を利用した人工知能 (AI) であり、処理の軽快さと使いやすさと確実性が特徴です。深層学習と異なり学習結果が明示性を持ち、異常を検知した際の原因診断も高速に実行します。そのため生産設備の監視や検査問題、あるいは不動産の価値評価など広い分野で利用されています。ごく最近では地震予測への活用も始まっています。
本セミナーでは、深層学習の特性と対比しながらMTシステム、特にMT法の特徴や具体的な利用方法、実際の応用事例を丁寧に解説します。時系列データや振動波形の扱い方、文字や画像データの扱い方などを学ぶことができます。
MT法はロシアの文豪トルストイの小説“アンナ・カレーニナ”の一節をヒントに作られました。小説と統計学が出会うことで生まれたAI技術と言えます。AIは人類の脅威ではなく、奉仕してくれる技術であることを学ぶことができます。
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複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 23,139円(税別) / 24,990円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2024/4/5 | GMP文書および記録作成と手順書改訂時における具体的な品質照査 (レビュー) | オンライン | |
2024/4/8 | 信頼性試験の基本と統計的手法の使い方 | オンライン | |
2024/4/9 | 信頼性試験に役立つワイブル解析の基礎と実践 | オンライン | |
2024/4/9 | 異物不良ゼロを実現する異物の正体 / 34の発生源 / 7つの伝達経路と現場の経験則 | オンライン | |
2024/4/11 | 不良ゼロへのアプローチ | オンライン | |
2024/4/11 | 表面観察・分析装置を用いた電子部品の不具合箇所の特定・観察・解析と不良対策 | オンライン | |
2024/4/16 | GMP文書および記録作成と手順書改訂時における具体的な品質照査 (レビュー) | オンライン | |
2024/4/18 | 電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント | オンライン | |
2024/4/22 | 外観検査の概要、目視検査と自動検査の比較、その実際 | オンライン | |
2024/4/22 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2024/4/22 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2024/4/24 | 製品開発時におけるタグチメソッドの活用方法/製品のロバスト設計手法 | オンライン | |
2024/4/24 | 信頼性基準適用試験における運用への落とし込みと(国内外) 委託時の信頼性保証 | オンライン | |
2024/4/26 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2024/5/8 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2024/5/9 | 製品開発時におけるタグチメソッドの活用方法/製品のロバスト設計手法 | オンライン | |
2024/5/13 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2024/5/20 | FMEAの必須知識と工程FMEAの実践手法 | オンライン | |
2024/5/22 | 新製品開発における信頼性予測と役割 | オンライン | |
2024/5/23 | 経済性を考慮した「開発時の安全係数」と「量産展開時の規格値」の論理的決定法 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/8/29 | 長期信頼性・高耐久性を得るための接着/接合における試験評価技術と寿命予測 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2010/10/28 | 薬物動態(「ヘ」項)試験におけるデータ・試験の信頼性確保・保証とQC・QA手法/タイミング |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |