技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、電子機器の熱設計に必要な伝熱工学の基礎知識について解説いたします。
本セミナーは、自然空冷、強制空冷等の空冷の電子機器の放熱技術を対象にしています。また、今まで伝熱工学など、放熱技術に必要な知識を学んだことのない方、または再度勉強し直したい方を対象にした入門コースです。
本セミナーは基礎知識の習得を目的としておりますので、最初に放熱の基礎となる3種類の伝熱方法 (伝導、対流、放射) のメカニズムを解説致します。また、簡単な数式だけでブロックの温度や筐体内の温度を求める方法を解説致します。これにより筐体内の電子部品のおおよその温度を予測することができます。次に筐体、プリント配線板の放熱設計について、具体例を挙げて説明致します。次に冷却部品の中でも使用頻度の高いヒートシンクの各部分のサイズの決定方法についても解説致します。最後に半導体部品の温度を予測する際に利用する熱抵抗値 (θJA、θJC、ΨJT) のそれぞれの意味と使用する上での注意事項について解説致します。
以上により、設計初期段階より筐体から電子部品までの放熱を考慮した設計ができるようになり、手戻りの少ない設計が可能になります。
テキストとして、「 電子機器設計者のための放熱技術入門
」 を使用いたします。
テキストが必要な方は、お申し込みのテキスト希望欄から「必要」をご選択下さい。
受講料と、テキスト代(実費)を合わせて請求させていただきます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/6/26 | 光容量分光法によるワイドギャップ半導体の欠陥準位評価 | オンライン | |
| 2026/6/26 | 高熱伝導材料の基礎と熱マネジメント技術 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 電子機器・部品の未然防止と故障解析 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 電子機器ノイズ対策のポイント | オンライン | |
| 2026/6/29 | パワーデバイス半導体SiC結晶と欠陥評価技術 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 高熱伝導材料の基礎と熱マネジメント技術 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 半導体パッケージの反り対策に向けた材料開発と測定技術 | オンライン | |
| 2026/7/2 | 光電融合パッケージングと光導波路の技術展望 | オンライン | |
| 2026/7/2 | 半導体パッケージ技術の基礎講座 | オンライン | |
| 2026/7/3 | 半導体ドライエッチングの基礎とプロセス制御技術 | オンライン | |
| 2026/7/7 | 熱力学・電気化学・金属材料学とめっき膜観察・分析方法 | オンライン | |
| 2026/7/7 | 銀焼結接合によるパワーデバイス実装の界面制御と信頼性設計 | オンライン | |
| 2026/7/7 | 先端半導体デバイスにおける多層配線技術と2.5D/3Dデバイス集積化技術 (2日間) | オンライン | |
| 2026/7/7 | 先端メモリ・ロジックデバイスのためのCu及びPost-Cu多層配線技術の基礎から最新動向 | オンライン | |
| 2026/7/8 | 熱力学・電気化学・金属材料学とめっき膜観察・分析方法 | オンライン | |
| 2026/7/8 | パワーデバイスの結晶欠陥評価技術とその動向 | オンライン | |
| 2026/7/9 | バスバーの採用動向と要求特性の展望 | オンライン | |
| 2026/7/9 | 電子部品の特性とノウハウ (2日間) | オンライン | |
| 2026/7/9 | 電子部品の特性とノウハウ (1) | オンライン | |
| 2026/7/10 | CMPの基礎と最適なプロセスを実現する実践的総合知識 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2008/9/1 | 半導体製造用炭化ケイ素 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
| 1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
| 1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |