技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、信頼性が初めての人や、半導体はもとよりLEDを扱うことに慣れていない人にもわかりやすく解説いたします。
次期の省エネルギー照明やディスプレーの光源として期待されているLEDは固有で有限の寿命をもっているため、信頼性評価や信頼性設計の考え方が、従来のシリコンICやLSIの場合とは大きく異なる点に注意が必要です。
本セミナーではまず、LEDの信頼性の特徴を述べ、信頼性評価の実例を概観したあと、寿命評価に関する標準化の動き、LEDシステムの信頼性設計のポイントを解説します。
とくに寿命に関しては統計的データが信頼性設計上重要であることを理解していただきます。
続いて、LEDの熱管理のポイントを明らかにし、基本技術である熱抵抗の測定方法について説明します。なかでも過渡熱抵抗の評価が照明器具などのLEDシステムも含めた放熱設計検証ツールとして、またLEDの実装不良の検出に有効な手段になりうることを解説します。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/4/21 | 事故や失敗事例から学ぶHAZOP実践講座 | オンライン | |
2025/4/21 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/4/21 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2025/4/22 | トヨタに学ぶ変化点管理とDRBFMの実践 | オンライン | |
2025/4/22 | FMEA/FTA/DRBFM (不具合未然防止) の基本と実践 | オンライン | |
2025/4/23 | 電子基板・半導体などの熱対策技術 | オンライン | |
2025/4/23 | 伝熱の基礎と計算方法および温度計測とその留意点 | オンライン | |
2025/4/23 | 化粧品品質安定性確保と評価の進め方・トラブル対応 | オンライン | |
2025/4/24 | 品質とトラブル時のコストを考慮した「開発時の安全係数」と「量産時の検査基準」の決め方 | オンライン | |
2025/4/24 | 信頼性試験に役立つワイブル解析の基礎と実践 | オンライン | |
2025/4/25 | 信頼性の基礎知識と寿命目標をクリアするための加速試験・寿命予測のポイント | オンライン | |
2025/4/25 | ヒューマンエラー (ポカミス) の未然防止・撲滅の考え方と効果的なポカヨケの進め方 | オンライン | |
2025/4/25 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2025/5/12 | 信頼性物理に基づく故障解析技術 | オンライン | |
2025/5/13 | 実務に役立つQFD (Quality Function Deployment:品質機能展開) の基礎と活用に向けた具体的ポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/5/13 | 異常検知への生成AI活用と判断の標準化、高精度化 | オンライン | |
2025/5/13 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/5/15 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 速習 | オンライン | |
2025/5/15 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
2025/5/16 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン |
発行年月 | |
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2012/9/27 | 熱膨張・収縮の低減化とトラブル対策 |
2012/1/20 | LED照明 技術開発実態分析調査報告書 |
2010/5/28 | LED照明の高効率化プロセス・材料技術と応用展開 |
2010/3/1 | シリコーン製品市場の徹底分析 |
2009/8/10 | 照明器具 技術開発実態分析調査報告書 |
2009/8/10 | 照明器具 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
2009/1/15 | ヒートアイランド対策 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
2009/1/15 | ヒートアイランド対策 技術開発実態分析調査報告書 |
2006/8/31 | 液晶ディスプレイバックライト |
2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |