技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、信頼性が初めての人や、半導体はもとよりLEDを扱うことに慣れていない人にもわかりやすく解説いたします。
次期の省エネルギー照明やディスプレーの光源として期待されているLEDは固有で有限の寿命をもっているため、信頼性評価や信頼性設計の考え方が、従来のシリコンICやLSIの場合とは大きく異なる点に注意が必要です。
本セミナーではまず、LEDの信頼性の特徴を述べ、信頼性評価の実例を概観したあと、寿命評価に関する標準化の動き、LEDシステムの信頼性設計のポイントを解説します。
とくに寿命に関しては統計的データが信頼性設計上重要であることを理解していただきます。
続いて、LEDの熱管理のポイントを明らかにし、基本技術である熱抵抗の測定方法について説明します。なかでも過渡熱抵抗の評価が照明器具などのLEDシステムも含めた放熱設計検証ツールとして、またLEDの実装不良の検出に有効な手段になりうることを解説します。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/6/10 | 「ISO9001 品質マネジメントシステム」入門講座 | オンライン | |
2025/6/11 | 外観検査の "あいまいさ" を無くし判定精度を上げる外観 & 目視検査の正しい進め方 | 東京都 | オンライン |
2025/6/11 | 半導体の封止プロセスと封止材料の基本技術およびアドバンスドパッケージにおける封止技術の動向 | オンライン | |
2025/6/13 | ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 | オンライン | |
2025/6/16 | ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 | オンライン | |
2025/6/17 | FMEA・DRBFMの基礎と効率的で効果的な活用法とポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/17 | 放熱ギャップフィラーの特性、選定方法と効果的な使い方 | オンライン | |
2025/6/18 | Z軸 (厚み) 方向、異方性の熱伝導率に優れた放熱材料の設計、応用、熱伝導性評価 | オンライン | |
2025/6/20 | 品質管理の基本と応用の実践 2日間講座 | オンライン | |
2025/6/20 | 品質管理の応用と実践 | オンライン | |
2025/6/20 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/6/20 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2025/6/23 | EV / HEV用 主機モータとPCUの冷却・放熱技術 | 会場 | |
2025/6/24 | 電子機器・部品の未然防止と故障解析 | オンライン | |
2025/6/24 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
2025/6/26 | 半導体パッケージの伝熱経路、熱モデルと熱設計・シミュレーション技術 | オンライン | |
2025/6/27 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/27 | 放熱/冷却技術の最新動向 | オンライン | |
2025/6/27 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
2025/6/27 | 半導体パッケージの伝熱経路、熱モデルと熱設計・シミュレーション技術 | オンライン |
発行年月 | |
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2012/9/27 | 熱膨張・収縮の低減化とトラブル対策 |
2012/1/20 | LED照明 技術開発実態分析調査報告書 |
2010/5/28 | LED照明の高効率化プロセス・材料技術と応用展開 |
2010/3/1 | シリコーン製品市場の徹底分析 |
2009/8/10 | 照明器具 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
2009/8/10 | 照明器具 技術開発実態分析調査報告書 |
2009/1/15 | ヒートアイランド対策 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
2009/1/15 | ヒートアイランド対策 技術開発実態分析調査報告書 |
2006/8/31 | 液晶ディスプレイバックライト |
2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |