技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、信頼性が初めての人や、半導体はもとよりLEDを扱うことに慣れていない人にもわかりやすく解説いたします。
次期の省エネルギー照明やディスプレーの光源として期待されているLEDは固有で有限の寿命をもっているため、信頼性評価や信頼性設計の考え方が、従来のシリコンICやLSIの場合とは大きく異なる点に注意が必要です。
本セミナーではまず、LEDの信頼性の特徴を述べ、信頼性評価の実例を概観したあと、寿命評価に関する標準化の動き、LEDシステムの信頼性設計のポイントを解説します。
とくに寿命に関しては統計的データが信頼性設計上重要であることを理解していただきます。
続いて、LEDの熱管理のポイントを明らかにし、基本技術である熱抵抗の測定方法について説明します。なかでも過渡熱抵抗の評価が照明器具などのLEDシステムも含めた放熱設計検証ツールとして、またLEDの実装不良の検出に有効な手段になりうることを解説します。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/5/14 | 新しい放熱材料、TIM、熱伝導性材料の設計、応用、可能性 | オンライン | |
| 2026/5/15 | 製造業における外注品質向上のための管理ポイント | オンライン | |
| 2026/5/15 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
| 2026/5/20 | 熱設計の理論と実践 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/5/20 | AIを使った非線形実験計画法と実験計画法 | オンライン | |
| 2026/5/20 | 接触熱抵抗の基礎と予測・計測技術 | オンライン | |
| 2026/5/21 | AIを使った非線形実験計画法と実験計画法 | オンライン | |
| 2026/5/21 | AIデータセンターで求められる・変わる冷却技術 | オンライン | |
| 2026/5/21 | 不良予測と予兆診断、予知保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/5/22 | 電子部品・機構部品の主要な故障100超のモード・メカニズムとその対策技術 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/5/22 | データセンター冷却システムの動向と課題 | オンライン | |
| 2026/5/22 | AIエージェントの基礎と業務導入のポイント | オンライン | |
| 2026/5/25 | 信頼性物理に基づく信頼性試験技術とワイブル解析 | オンライン | |
| 2026/5/25 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/5/26 | 信頼性物理に基づく信頼性試験技術とワイブル解析 | オンライン | |
| 2026/5/26 | パワー半導体の先進パッケージに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 | オンライン | |
| 2026/5/27 | 熱対策技術 | オンライン | |
| 2026/5/28 | モータシステムの熱・冷却設計マネジメント実務基礎 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/5/29 | 外観検査の実務とポイント | オンライン | |
| 2026/5/29 | 導入品 (アカデミアへの委託試験も含む) の信頼性基準対応と信頼性基準試験の生データの取扱い | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2012/9/27 | 熱膨張・収縮の低減化とトラブル対策 |
| 2012/1/20 | LED照明 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2010/5/28 | LED照明の高効率化プロセス・材料技術と応用展開 |
| 2010/3/1 | シリコーン製品市場の徹底分析 |
| 2009/8/10 | 照明器具 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2009/8/10 | 照明器具 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
| 2009/1/15 | ヒートアイランド対策 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
| 2009/1/15 | ヒートアイランド対策 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2006/8/31 | 液晶ディスプレイバックライト |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |