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回路部品の故障モードと加速試験

回路部品の故障モードと加速試験

目次

第1章 加速試験概説

  • 1 加速試験(Accelerated Test)
  • 2 使用環境による部品の故障率の変化
  • 3 加速試験におけるデータの解析
  • 4 故障メカニズムと故障モード
  • 5 故障モデルの策定

第2章 抵抗器

第1節 リードレス抵抗器の故障モードと加速試験
  • 1 概説
  • 2 円筒型リードレス抵抗器の構成
    • 2.1 構造と工法
    • 2.2 基本設計
  • 3 信頼性試験
    • 3.1 規格における試験法比較
    • 3.2 製造管理試験
    • 3.3 信頼性試験方法
  • 4 故障モードと評価方法
    • 4.1 故障モード
    • 4.2 熱劣化と加速
    • 4.3 湿度劣化と加速
    • 4.4 耐パルス特性
    • 4.5 機械的強度
第2節 角型チップ抵抗器の故障モードと加速試験
  • 1 概説
  • 2 製品の構造と特徴および面装着状況
    • 2.1 チップ抵抗器の構造概要
    • 2.2 チップ抵抗器の特徴
    • 2.3 チップ部品面装着技術の概要
  • 3 環境ストレス試験と故障モード
    • 3.1 寿命ストレス試験による劣化速度
    • 3.2 電気ストレス試験と故障事例
    • 3.3 実装機械ストレス試験と故障事例
  • 4 その他の試験と製品評価
    • 4.1 特殊試験と評価
    • 4.2 IEC-Pub115-2およびTC(S)542による評価事例
  • 5 まとめ

第3章 コンデンサ

第1節 固定コンデンサの故障モードと加速試験
  • 1 概説
  • 2 セラミックコンデンサの形状・プロセス概要
    • 2.1 セラミックコンデンサの種類と特長
    • 2.2 セラミックコンデンサのプロセス(製造工程)
  • 3 セラミックコンデンサの故障モード
    • 3.1 単板形セラミックコンデンサの主な故障モードと発生要因
    • 3.2 積層形セラミックコンデンサの主な故障モードと発生要因
  • 4 環境ストレスと加速寿命試験
    • 4.1 加速寿命試験装置
    • 4.2 試験条件の設定
    • 4.3 ステップストレス試験
    • 4.4 積層チップコンデンサの加速係数調査
    • 4.5 クラックを有した積層チップコンデンサの信頼性
  • 5 コンデンサの故障率
    • 5.1 実施方法
    • 5.2 試験条件
    • 5.3 試験方法、測定時間
    • 5.4 特性値の径時変化
    • 5.5 セラミックコンデンサの故障率
第2節 アルミニウム電解コンデンサの故障モードと加速試験
  • 1 はじめに
  • 2 アルミニウム電解コンデンサの原理と構造
    • 2.1 アルミニウム電解コンデンサの原理
    • 2.2 アルミニウム電解コンデンサの構造
  • 3 アルミニウム電解コンデンサの信頼性
    • 3.1 故障モード
    • 3.2 故障パターン
    • 3.3 環境ストレスと信頼性
    • 3.4 チップ形アルミニウム電解コンデンサの信頼性
  • 4 アルミニウム電解コンデンサの加速試験
    • 4.1 電解液のドライアップ(拡散)メカニズム
    • 4.2 電解液の透過
  • 5 温度加速性について
  • 6 おわりに

第4章 トランス、コイルの故障モードと加速試験

  • 1 はじめに
  • 2 コイル、トランスの分類
  • 3 コイル、トランスの検査
    • 3.1 検査項目
    • 3.2 故障モード
    • 3.3 トランスの絶縁システム
  • 4 試験
    • 4.1 検査の種類
    • 4.2 材料検査
    • 4.3 認定検査
    • 4.4 初回納入品検査
    • 4.5 品質適合検査
  • 5 試験設備
    • 5.1 伝授計測器
    • 5.2 環境試験設備
  • 6 信頼性試験実施上の諸問題
  • 7 むすび

第5章 フィルタ、振動子

第1節 メカニカルフィルタにおける故障と加速試験
  • 1 まえがき
  • 2 メカニカルフィルタの信頼性と故障解析
    • 2.1 種類と構成
    • 2.2 メカニカルフィルタの故障モード
    • 2.3 故障の原因
    • 2.4 故障の防止と高信頼化
    • 2.5 フィールドデータ
  • 3 メカニカルフィルタにおける加速試験
    • 3.1 加速試験の方法と実施例
    • 3.2 メカニカルフィルタにおける加速試験の加速率
  • 4 むすび
第2節 セラミックフィルタにいおける故障モードと加速試験
  • 1 まえがき
  • 2 セラミックフィルタの設計と製法
    • 2.1 圧電セラミックス
    • 2.2 振動モード
  • 3 パッケージ
    • 3.1 プラスチックケース方式
    • 3.2 樹脂ディップ方式
  • 4 信頼性
    • 4.1 信頼性データ
    • 4.2 フィルドデータと故障モード
    • 4.3 加速係数
  • 5 信頼性の評価
  • 6 むすび
第3節 水晶フィルタ、水晶振動子の故障モードと加速試験
  • 1 宇宙開発用水晶フィルタ
    • 1.1 水晶フィルタ
    • 1.2 要求品質水準
    • 1.3 故障モード
    • 1.4 加速寿命試験
  • 2 宇宙開発用水晶振動子
    • 2.1 振動子の概要
    • 2.2 要求品質の概要
    • 2.3 故障モード
    • 2.4 加速寿命試験
    • 2.5 信頼性向上の試み
  • 3 自動車用水道振動子
    • 3.1 自動車用水道振動子の概要
    • 3.2 自動車用水道振動子に要求品質市水準
    • 3.3 故障モード
    • 3.4 加速寿命試験
    • 3.5信頼性向上の実施

第6章 加速試験装置とその応用手法

  • 1 はじめに
  • 2 加速試験の目的
    • 2.1 熱衝撃実験
    • 2.2 耐湿性試験
    • 2.3 振動試験
  • 3 加速寿命試験装置の実際
    • 3.1 熱衝撃試験装置
    • 3.2 高度加速寿命試験装置
    • 3.3 振動試験装置と複合環境試験装置
  • 4 加速寿命訴権装置の応用手法
    • 4.1 試験槽内の熱的な影響
    • 4.2 計測性能について
    • 4.3 試験槽内の水分
    • 4.4 その他の注意事項
  • 5 おわりに

執筆者

  • 渡部 篤 株式会社東芝 日野工場 技術管理部 主査
  • 柳瀬 恒夫 松下電子部品株式会社 回路部品事業部 皮膜抵抗器部 皮膜抵抗課 主任技師
  • 吉田 則文 福井松下電器株式会社 回路部品工場 品質保証課 課長
  • 清水 紀勝 株式会社村田製作所 コンデンサ事業部 品質管理部 品質管理課 課長
  • 岩元 茂芳 松下電子部品株式会社 コンデンサ事業部 小型商品技術課 主事
  • 木村 十郎 元 株式会社タムラ製作所 品質保証部 部長
  • 山田 博章 日本電気株式会社 伝送通信事業部 デバイス部 主任
  • 藤島 啓 株式会社村田製作所 専務取締役
  • 長谷川 淳 日本電波工業株式会社 狭山工場 第2機器部 主任技術員
  • 千葉亜紀雄 日本電波工業株式会社 狭山工場 第2技術部 課長
  • 岡本 謙蔵 日本電波工業株式会社 狭山工場 第4水晶部
  • 山本 敏男 タバイエスペック株式会社 信頼性技術研究室 課長

監修

  • 渡部 篤 株式会社東芝

出版社

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お問い合わせ

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体裁・ページ数

CD-R 180ページ

発行年月

1997年11月

販売元

tech-seminar.jp

価格

6,900円 (税別) / 7,590円 (税込)

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