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「患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/1/8 火力発電ボイラの耐熱材料トラブルと寿命予測 東京都 会場・オンライン
2026/1/13 異常検知への生成AI、AIエージェント導入と活用の仕方 オンライン
2026/1/13 外観検査の自動化技術とシステムの構築 オンライン
2026/1/13 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/1/13 品質管理の基礎 (4) オンライン
2026/1/14 デジタルで進化する4M管理 オンライン
2026/1/15 デジタルで進化する4M管理 オンライン
2026/1/15 実験室における高薬理活性物質の取り扱い/封じ込め対応と区分による要求レベル オンライン
2026/1/16 設計業務の「ムリ・ムダ・ムラ」解消による人手不足解決方法 オンライン
2026/1/16 ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験実施と試験結果からの有効期間の設定 オンライン
2026/1/16 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 オンライン
2026/1/16 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン
2026/1/19 ウィスカに関する故障理論と故障メカニズム・対策 東京都 会場・オンライン
2026/1/19 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン
2026/1/21 医薬品製造のQC/QA業務に使用できるクラウドの導入とバリデーション オンライン
2026/1/21 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 オンライン
2026/1/22 異常検知への生成AI、AIエージェント導入と活用の仕方 オンライン
2026/1/22 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 オンライン
2026/1/22 外観検査の自動化技術とシステムの構築 オンライン
2026/1/22 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 オンライン
2026/1/23 半導体・論理回路テストの基礎と応用 オンライン
2026/1/26 食品の官能評価の基礎と手順・手法の勘所 オンライン
2026/1/26 半導体・論理回路テストの基礎と応用 オンライン
2026/1/26 米国・カナダ・ブラジル・オーストラリア・韓国・欧州の医療機器規制入門セミナー オンライン
2026/1/26 AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度の向上 オンライン
2026/1/26 導入・提携における事業性評価やデューデリジェンスの不確実性対応 オンライン
2026/1/27 外観検査における目視検査 & 自動検査での品質チェック・ノウハウ オンライン
2026/1/27 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 オンライン
2026/1/27 医療機器開発における生物学的安全性評価の進め方 オンライン
2026/1/28 ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 東京都 会場・オンライン
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関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2023/5/26 グローバル展開・3極規制要件の違いをふまえたRMP (日本/欧州) ・REMS (米国) 策定とリスク設定・対応 (製本版 + ebook版)
2023/5/26 グローバル展開・3極規制要件の違いをふまえたRMP (日本/欧州) ・REMS (米国) 策定とリスク設定・対応
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/11/21 医療機器企業におけるリスクマネジメントセミナー (オンデマンド)
2019/11/21 医療機器企業におけるリスクマネジメントセミナー (DVD)
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験
1985/10/1 電子部品・電子装置の環境信頼性試験
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