技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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視聴期間は2024年11月18日〜25日を予定しております。
お申し込みは2024年11月22日まで承ります。
業務における不具合やトラブルは3H (初めて、変更、久し振り) の際に発生します。この手法によりヒューマンエラー (ポカミス) による不具合、トラブルを撲滅しましょう。
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 45,000円(税別) / 49,500円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/6/19 | GxP領域データの (完全) 電子化プロセスとデータインテグリティ対応の具体的ポイント | オンライン | |
| 2026/6/19 | 使用環境・製造条件の悪影響を受けないロバストな設計条件を見極める品質工学 | オンライン | |
| 2026/6/19 | 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 | オンライン | |
| 2026/6/22 | 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 | オンライン | |
| 2026/6/24 | トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 | オンライン | |
| 2026/6/25 | GMP管理ではない (non-GMP) 原材料供給業者の管理方法・要求事項・品質契約と監査ポイント・ (非協力的な場合・監査不適合) 事例 | オンライン | |
| 2026/6/26 | 市場クレームの深刻さに応じた検査基準・規格値と安全係数決定法 | オンライン | |
| 2026/6/26 | HAZOPの実施・運営と演習を踏まえたリスク評価 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 電子機器・部品の未然防止と故障解析 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 市場クレームの深刻さに応じた検査基準・規格値と安全係数決定法 | オンライン | |
| 2026/6/30 | 不良ゼロへのアプローチ | オンライン | |
| 2026/7/3 | 工程内不良を撲滅する歩留まり改善の実践手法 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/7/6 | 工程内不良を撲滅する歩留まり改善の実践手法 | 東京都 | オンライン |
| 2026/7/6 | アレニウスプロット作成と安定性予測の実務 | オンライン | |
| 2026/7/9 | GMP管理ではない (non-GMP) 原材料供給業者の管理方法・要求事項・品質契約と監査ポイント・ (非協力的な場合・監査不適合) 事例 | オンライン | |
| 2026/7/10 | 品質管理の基本と応用の実践 2日間講座 | オンライン | |
| 2026/7/10 | 品質管理の基本と実践 | オンライン | |
| 2026/7/13 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/7/13 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
| 2026/7/15 | 周辺視目視検査法の進め方と実施法 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/3/27 | 医薬品・食品包装の設計と規制・規格動向 - 品質・安全・使用性向上のために - |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |