技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、真の原因追求に活用できる「なぜなぜ分析の実践法」について「事実を見ること」と「論理の飛躍を避けること」の観点から事例を通じて解説いたします。
世の中のビジネスの多くは、直面する問題を解決すること、と言っても過言ではない。どのビジネスパーソンにとっても問題解決力を要求され、重要な能力の一つとして扱われている。問題解決のステップは一般的に、1) 問題発見、2) 問題の原因追究、3) 解決策の策定と実行、4) 効果の確認と維持継続、で示される。
しかし、問題の真の原因追究が正しく進められずに、問題解決に行き詰まり苦労する状況も少なくない。ここでは真の原因追求に活用できる『なぜなぜ分析の実践法』について「事実を見ること」と「論理の飛躍を避けること」の観点から事例を通じて習得できるようにする。
本手法を身に付けると、効果のある解決策を策定することが可能となり、品質面での不具合に代表される問題の解決につなげることが期待できる。
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| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/5/8 | 外観検査管理者のための実践講座 | オンライン | |
| 2026/5/11 | 設計プロセスにおけるデジタル技術と生成AIの活用法 | オンライン | |
| 2026/5/11 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/5/11 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
| 2026/5/12 | 電気・電子機器の信頼性と安全性、発火防止における原理・原則と具体策 | オンライン | |
| 2026/5/12 | 不良予測と予兆診断、予知保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/5/13 | AIエージェントの基礎と業務導入のポイント | オンライン | |
| 2026/5/15 | 製造業における外注品質向上のための管理ポイント | オンライン | |
| 2026/5/15 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
| 2026/5/18 | 本当に使えるFMEA・DRBFMの活用法 | オンライン | |
| 2026/5/20 | AIを使った非線形実験計画法と実験計画法 | オンライン | |
| 2026/5/21 | AIを使った非線形実験計画法と実験計画法 | オンライン | |
| 2026/5/21 | 不良予測と予兆診断、予知保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/5/22 | 電子部品・機構部品の主要な故障100超のモード・メカニズムとその対策技術 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/5/22 | AIエージェントの基礎と業務導入のポイント | オンライン | |
| 2026/5/25 | 信頼性物理に基づく信頼性試験技術とワイブル解析 | オンライン | |
| 2026/5/26 | 信頼性物理に基づく信頼性試験技術とワイブル解析 | オンライン | |
| 2026/5/26 | パワー半導体の先進パッケージに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 | オンライン | |
| 2026/5/29 | 開発者・技術者のための技術発想と実現 | オンライン | |
| 2026/5/29 | 外観検査の実務とポイント | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |