技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
生産台数、生産地域、使用用途、新規開発製品の増加に伴い、製品設計においては、品質問題を未然に防止し、設計上流で図面品質を作りこむことが重要となります。FMEAが実施されていない訳ではないが、形骸化し、表面的に実施されており、結果、効果的な未然防止になっていないという悩みを抱えている企業も少なくありません。本セミナーでは、これまでの良い設計に対する「変更・変化点」に着目し、品質問題を漏れなく、素早く発見・解決する新たな品質問題未然防止手法の考え方と進め方を、座学と実践演習を通して習得していただきます。
本手法により抽出された問題の6～7割が公差に関連する問題であり、公差設計と連携することで、品質問題の削減と、図面品質の向上に、更に大きな効果を発揮します。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/6/19 | GxP領域データの (完全) 電子化プロセスとデータインテグリティ対応の具体的ポイント | オンライン | |
| 2026/6/19 | 使用環境・製造条件の悪影響を受けないロバストな設計条件を見極める品質工学 | オンライン | |
| 2026/6/19 | 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 | オンライン | |
| 2026/6/19 | ICH Q2、Q14ガイドラインを踏まえた分析法バリデーション | オンライン | |
| 2026/6/22 | 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 | オンライン | |
| 2026/6/23 | Excelを用いて体験する伝熱工学 | オンライン | |
| 2026/6/24 | トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 | オンライン | |
| 2026/6/24 | デスクリサーチと市場分析による医薬品売上予測の進め方 | オンライン | |
| 2026/6/24 | 滅菌バリデーションセミナー | オンライン | |
| 2026/6/25 | Excelを用いて体験する伝熱工学 | オンライン | |
| 2026/6/25 | ダイコーティングの基礎理論とトラブル対策 | オンライン | |
| 2026/6/25 | 樹脂のレオロジー特性の考え方、成形加工時における流動解析の進め方 | オンライン | |
| 2026/6/26 | 市場クレームの深刻さに応じた検査基準・規格値と安全係数決定法 | オンライン | |
| 2026/6/26 | 電子実験ノート・ラボノートを活用したデータ収集、一元管理の進め方 | オンライン | |
| 2026/6/26 | HAZOPの実施・運営と演習を踏まえたリスク評価 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 電子機器・部品の未然防止と故障解析 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 市場クレームの深刻さに応じた検査基準・規格値と安全係数決定法 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 滅菌バリデーションセミナー | オンライン | |
| 2026/6/29 | 工業触媒の基礎 (活性試験、評価) と劣化対策、スケールアップ | オンライン | |
| 2026/6/29 | 材料費、加工費の試算ノウハウとコストマネジメント | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/2/28 | 撹拌装置の設計とスケールアップ |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |