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電子部品の信頼性・安全性評価と寿命予測

電子部品の信頼性・安全性評価と寿命予測

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは、信頼性の基礎知識から解説し、電子部品調達のポイント、故障寿命の予測について実例を交えて解説いたします。
電子部品の寿命予測に必須の知識を習得していただきます。

開催日

  • 2011年11月25日(金) 13時00分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 電子回路設計者、評価担当者
  • 電子部品の評価・調達者

修得知識

  • 電子部品調達の基礎
  • 電子部品の信頼性試験法
  • 電子部品の寿命予測
  • 電子部品の市場トラブルの事例

プログラム

　電子機器の小型・軽量化に伴い、それに搭載される電子部品も小型化・薄膜化が進んでいます。一方、コストダウン狙いで海外の部品の使用に伴い、市場トラブルが増加傾向にあります。このような状況では、電子機器に使用する電子部品の信頼性を見極めることが重要となっています。
　そこで本講座では、信頼性の基礎知識から電子部品の故障寿命の予測方法まで受動部品を中心に実際の例を使いながら解説し、寿命予測を実施していくに充分な情報を提供します。

  1. 電子部品を調達する時の課題
    1. 調達部品のトラブル現状
    2. 調達部品のトラブル現状
    3. 信頼性の高い部品を調達する為の考え方
  2. 部品調達時に知っておくべき用語と試験法
    1. 用語の意味・定義
    2. 故障数と時間の関係
    3. 故障率を下げる為の考え方
    4. 信頼性試験の種類と目的
  3. 評価する際に用いる信頼性理論
    1. 使用温度と寿命時間の関係式 (アレニウスモデル)
    2. 温度に加えて湿度も考慮した手法 (アイリングモデル)
    3. 温度と更に歪応力を考慮した手法 (コフィン・マンソンモデル)
  4. 加速試験による市場での寿命予測の実際
    1. 寿命に及ぼすストレス要因
    2. 寿命予測のプロセス
    3. 加速試験による寿命予測の実際
  5. 市場トラブルの実例
    1. AL電解コンデンサ
    2. フィルムコンデンサ
  • 質疑応答・名刺交換
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講師

  • 本山 晃 氏
    M.A 信頼性技術オフィス
    代表
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会場

東京ビッグサイト

会議棟 8F 801

東京都 江東区 有明3-11-1
東京ビッグサイトの地図
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主催

サイエンス＆テクノロジー 株式会社
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 40,000円 (税別) / 42,000円 (税込)
複数名
: 33,000円 (税別) / 34,650円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
  • 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)
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