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電子デバイスの実践的な信頼性評価

電子デバイスの実践的な信頼性評価

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは、信頼性の基礎から解説し、電子デバイスの実践的な信頼性評価技術、最適な評価方法の選定、評価事例について詳解いたします。

開催日

  • 2011年6月27日(月) 10時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 電子デバイスの品質・信頼性担当者
  • 調達品の品質試験担当者

修得知識

  • 信頼性の基礎
  • 電子デバイスの実践的な信頼性評価技術
  • 最適な評価方法の選定
  • 電子デバイスの評価事例

プログラム

  1. 現状の信頼性の課題
    1. 高信頼性への要求とコストダウン
  2. 信頼性評価技術
    1. 信頼性評価技術
      • 信頼性試験、劣化評価
      • 特性評価
      • 良品解析
      • 故障解析
    2. 信頼性評価技術の適用と課題
      ～信頼性レベルや評価目的に則した最適な評価方法の検討・決定法～
  3. 市場故障の原因
    1. バスタブ曲線
    2. LSIにおける代表的な故障
    3. 故障に対する加速要因
  4. 実践的な評価法とデバイスへの適用
    ～車載電子部品・太陽電池・LED等～
    1. 市場流通品の解析法と事例
    2. 良品解析
      • 良品解析法の有効性と方法
      • 信頼度を数値評価するLSIプロセス診断法
      • 良品解析のIC/LSI以外のデバイスへの適用
    3. 実装設計のための熱解析
    4. 市場故障に対する故障解析、解析法と実施例
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講師

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会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
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主催

株式会社 トリケップス
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 45,150円 (税込)
1口
: 55,000円 (税別) / 57,750円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
  • 早期申込割引:
    2011年5月27日 17:00までのお申込は、
    1名受講・1口受講とともに受講料から10%割引となります。
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