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電子デバイスの実践的な信頼性評価
電子デバイスの実践的な信頼性評価
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
概要
本セミナーでは、信頼性の基礎から解説し、電子デバイスの実践的な信頼性評価技術、最適な評価方法の選定、評価事例について詳解いたします。
開催日
- 2011年6月27日(月) 10時30分 ～ 16時30分
受講対象者
- 電子デバイスの品質・信頼性担当者
- 調達品の品質試験担当者
修得知識
- 信頼性の基礎
- 電子デバイスの実践的な信頼性評価技術
- 最適な評価方法の選定
- 電子デバイスの評価事例
プログラム
- 現状の信頼性の課題
- 高信頼性への要求とコストダウン
- 信頼性評価技術
- 信頼性評価技術
- 信頼性試験、劣化評価
- 特性評価
- 良品解析
- 故障解析
- 信頼性評価技術の適用と課題
～信頼性レベルや評価目的に則した最適な評価方法の検討・決定法～
- 信頼性評価技術
- 市場故障の原因
- バスタブ曲線
- LSIにおける代表的な故障
- 故障に対する加速要因
- 実践的な評価法とデバイスへの適用
～車載電子部品・太陽電池・LED等～- 市場流通品の解析法と事例
- 良品解析
- 良品解析法の有効性と方法
- 信頼度を数値評価するLSIプロセス診断法
- 良品解析のIC/LSI以外のデバイスへの適用
- 実装設計のための熱解析
- 市場故障に対する故障解析、解析法と実施例
講師
- 味岡 恒夫 氏故障物性ソリューション
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
43,000円 (税別) / 45,150円 (税込)
1口
:
55,000円 (税別) / 57,750円 (税込)
(3名まで受講可)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能) - 早期申込割引:
2011年5月27日 17:00までのお申込は、
1名受講・1口受講とともに受講料から10%割引となります。
本セミナーは終了いたしました。
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