技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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このセミナーは2024年10月8日に開催したセミナーのオンラインセミナー:オンデマンド配信です。
オンラインセミナーは、お申し込み日より10日間、動画をご視聴いただけます。
お申込は、2025年3月31日まで受け付けいたします。
(収録日: 2024年10月8日)
本セミナーでは、周辺視目視検査法の基礎から解説し、外観検査の精度向上を図る周辺視目視検査法の進め方、照明・姿勢・器材の配置等の作業条件の改善、および検査員の早期育成について、具体的な実例を交えて詳しく解説いたします。
従来の目視検査では、集中して欠陥を探す「不良探し」が一般的な指導方法でしたが、実は、これこそが、不良品の見逃しが減らない、無くならない大きな要因です。講師は、年間を通して見逃しのないベテラン検査員の動作分析および機能分析を行った結果、『周辺視』、『瞬間視』、『衝動性眼球運動』という視覚システムを活用して、「良品の確認」と「リズム」で検査を行っていることを解明しました。
これらは、経験の浅い検査員でも容易に習得できることから、ベテランと同等以上の生産性を達成できるようになり、さらに光源の種類や強さを最適化することで、出来高を挙げながら 見逃しを無くす効果が得られます。また、併せて、検査員の心身における労働環境の改善・向上も図ることができます。
本セミナーでは、本検査法の原理や導入方法、改善効果などについて、事例を交え、わかりやすく解説します。特に、不良品の見逃しや検査員の習熟期間でお悩みの管理者や現場作業者に、おすすめします。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
別途テキストの送付先1件につき、配送料 1,100円(税別) / 1,210円(税込) を頂戴します。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/3/19 | 半導体・回路素子・電子部品における劣化寿命の故障モード・因子とその故障の寿命点 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/3/24 | 信頼性の基礎 (2) | オンライン | |
2025/3/25 | 実践疲労強度設計 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/3/25 | 品質向上のための実践的な製品設計と品質問題の防止 | オンライン | |
2025/3/28 | 固体高分子の破壊とタフニング | オンライン | |
2025/3/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/3/31 | 短期にソフトウェア品質を良くする「人間重視の品質改善術」 | オンライン | |
2025/3/31 | セラミックスの破壊規準と強度信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/3/31 | 抜取検査 | オンライン | |
2025/4/24 | 品質とトラブル時のコストを考慮した「開発時の安全係数」と「量産時の検査基準」の決め方 | オンライン | |
2025/4/24 | 医薬品・食品・化粧品工場における異物混入の具体的防止対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 生産プロセスにおけるIoT、ローカル5Gの活用 |
2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/12/31 | 機械学習・ディープラーニングによる "異常検知" 技術と活用事例集 |
2022/11/14 | 外観検査技術 (CD-ROM版) |
2022/11/14 | 外観検査技術 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/3/27 | 医薬品・食品包装の設計と規制・規格動向 - 品質・安全・使用性向上のために - |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |