技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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アーカイブ配信で受講をご希望の場合、視聴期間は2025年1月31日〜2月7日を予定しております。
アーカイブ配信のお申し込みは2025年2月5日まで承ります。
本セミナーでは、金属材料より優れた耐熱性、高比強度、耐摩耗性を持つセラミックス材料について取り上げ、セラミックスの基礎から、破壊メカニズムと対策、強度試験、信頼性評価について詳解いたします。
構造物や製品において、その部品の破損はシステムの故障や重大な事故を引き起こす可能性があります。したがって、長期信頼性を確保した構造物や製品を強度設計製作するためには、使用する材料の強度試験を行い、強度特性を理解することは必須です。金属は、強く、よく伸びる性質を有します。そのため、いきなり壊れることはなく、必ずその変形や損傷の徴候がみられます。
一方でセラミックスは、金属材料と比較して耐熱性、高比強度、耐摩耗性など優れた特性を有しています。しかしながら最大の欠点は、非常に脆く、金属のように伸びないためにその変形や損傷の徴候が見られず、突然、脆性破壊します。このように金属とは対照的である、脆く伸びないセラミックスならではの強度の考え方・取扱い方があります。
そこで本講座では金属材料と比較して、(1)破壊メカニズムや破損の仕方の違いを説明し、(2)破損したセラミックスの原因の見つけ方の基礎を学びます。最後に、(3)破壊強さ強度試験方法とおよび強度および寿命および信頼性寿命評価の基本を解説します。
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「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 35,000円(税別) / 38,500円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/13 | 応力集中部、溶接継手、ボルト締結部における破損・ゆるみメカニズムとCAE寿命設計法、強度増大法および強度設計基準 | オンライン | |
| 2026/1/13 | 外観検査の自動化技術とシステムの構築 | オンライン | |
| 2026/1/13 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/1/13 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
| 2026/1/14 | はじめてのCAE解析入門 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/15 | 分子シミュレーションによる高分子材料の内部構造と変形・破壊の解析 | オンライン | |
| 2026/1/16 | ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験実施と試験結果からの有効期間の設定 | オンライン | |
| 2026/1/16 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/1/16 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
| 2026/1/16 | 分子シミュレーションによる高分子材料の内部構造と変形・破壊の解析 | オンライン | |
| 2026/1/19 | ガラスの割れのメカニズムとその具体的対策技術 | オンライン | |
| 2026/1/19 | ウィスカに関する故障理論と故障メカニズム・対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/19 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
| 2026/1/21 | 車載電装部品の熱・高電圧化対策と絶縁評価技術の基礎 | オンライン | |
| 2026/1/21 | 医薬品製造のQC/QA業務に使用できるクラウドの導入とバリデーション | オンライン | |
| 2026/1/21 | 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン | |
| 2026/1/22 | 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 | オンライン | |
| 2026/1/22 | 金属材料の破断面観察の基礎 | オンライン | |
| 2026/1/22 | 外観検査の自動化技術とシステムの構築 | オンライン | |
| 2026/1/22 | 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |