技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、新製品開発における信頼性と加速試験の考え方について解説し、実際の進め方や注意すべきポイントについて解説いたします。
Made in Japanの製品が持つ世界的な評価は、その固有技術と共に信頼性の高さに起因しています。信頼性の高さは技術的な進歩に加え、使い方の多様化から、企業は絶えず信頼性を向上させなければ競争に勝つことはできません。
信頼性は、機能を達成するだけでなく、それが約束した期間発揮し続ける性質です。そのため実現するにはFMEA/FTAのような予測手法から、設計手法、試験手法やワイブル解析などが必要で、新製品の開発には企業の持つノウハウが求められます。
その中でも加速試験は、通常よりも厳しい条件で行う試験の総称で、その目的は短期間に信頼性を検証するだけでなく、故障の可能性を見つけての改善を促すものです。また信頼性は設計で決まるといっても、実際に動かしてみて分かることも沢山あります。そのためには数値解析、故障解析などの自社他社のノウハウを活用していくことも大切です。
この講座では実務者・管理者を対象に、新製品開発における信頼性と加速試験の考え方について解説し、実際の進め方や注意すべきポイントについて紹介します。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/3/17 | 信頼性の基礎 (2日間) | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (1) | オンライン | |
2025/3/18 | 信頼性の基礎と加速試験の進め方および試験結果の活用法 | オンライン | |
2025/3/19 | 半導体・回路素子・電子部品における劣化寿命の故障モード・因子とその故障の寿命点 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/3/19 | ChatGPTによる生産管理の効率化と活用、運用のポイント | オンライン | |
2025/3/19 | 「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン | |
2025/3/21 | プラントのリスクアセスメント手法 (定性評価手法/定量評価手法) | オンライン | |
2025/3/24 | 信頼性の基礎 (2) | オンライン | |
2025/3/25 | 実践疲労強度設計 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/3/26 | ChatGPTによる生産管理の効率化と活用、運用のポイント | オンライン | |
2025/3/26 | 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 | オンライン | |
2025/3/26 | プラスチックの疲労破壊と耐久性評価技術 | オンライン | |
2025/3/26 | 医療機器リスクマネジメントセミナー | オンライン | |
2025/3/27 | 公差設計入門 | オンライン | |
2025/3/28 | QC工程表・作業標準書の作り方 | オンライン | |
2025/3/28 | 固体高分子の破壊とタフニング | オンライン | |
2025/3/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/3/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/3/31 | 周辺視目視検査法による外観検査の上手な進め方 | オンライン | |
2025/3/31 | セラミックスの破壊規準と強度信頼性評価の基礎 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |