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診断支援装置 性能評価に用いる統計解析手法 入門

診断支援装置 性能評価に用いる統計解析手法 入門

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは、装置性能評価の実務において、各統計手法をどのように活用すればいいのかを修得していただきます。

開催日

  • 2017年7月27日(木) 10時30分 ～ 16時30分

プログラム

　医学的診断は、患者の訴え、医師による診療所見、そして臨床検査データの三つの情報の総合的な判断による。そのなかでもっとも客観的情報を提供するのが臨床検査である。しかし高い客観性をうるには、診断支援システムの基本的な性能が適切なものでなければならない。
　本講義では、特に診断支援装置の基本的な性能評価に関する統計的解析法を理解することに重点をおき、根拠 (または証拠) に基ずく医療情報の提供できる力の習得を目的とする。

  1. 診断支援システムに要求される性能試験
  2. 性能試験の統計的背景
  3. 危険率と検出力、サンプル数
    1. 危険率
    2. 検出力
    3. サンプル数
  4. 信頼区間の持つ意味
    1. 母集団と標本
    2. 検定と推定
  5. 回帰分析
    1. 一次回帰式と残差分析の持つ意味
    2. n次回帰式の次元の選択
    3. 重回帰式での変数の選択
    4. 判別分析について
  6. 分散分析法と実験計画法
  7. 臨床的有用性の評価
    1. 交差検証 (交差確認)
      • 繰り返し代入法 (RB法)
      • Leave – One – Out 交差検定法 (LOO法)
      • K分割交差検定法 (KCV法)
      • ホールドアウト検定法 (HO法)
    2. シュミレーションによる方法
      • ジャックナイフ法
      • ブートストラップ法
  8. 分割表からの評価
    1. 分割表からの統計量
  9. ROC分析
    1. ROC解析の基礎
    2. 性能評価の尺度
    3. 感度と特異度
    4. ROC曲線の推定
    5. 有意差検定
    • 質疑応答
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講師

  • 井野 邦英 氏
    アキュプレック有限会社
    取締役社長
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会場

株式会社 技術情報協会
東京都 品川区 西五反田2-29-5 日幸五反田ビル8F
株式会社 技術情報協会の地図
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主催

株式会社 技術情報協会
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 50,000円 (税別) / 54,000円 (税込)
複数名
: 45,000円 (税別) / 48,600円 (税込)

複数名同時受講割引について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 45,000円(税別) / 48,600円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 50,000円(税別) / 54,000円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 90,000円(税別) / 97,200円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 135,000円(税別) / 145,800円(税込)
  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 他の割引は併用できません。
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