技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、周辺視目視検査法の基礎から解説し、外観目視検査を精度よく実施するための視覚システムの活用法と光源の種類や強さの最適化について詳解いたします。
外観目視検査の一般的なイメージは「集中力」、「不良探し」であり、とにかくよく見ることが求められています。実は、これこそが見逃しが無くならない大きな要因です。その訳は、「集中力」が短時間しか持たないからです。それではベテラン検査員はどうしているかというと、「良品の確認」と「リズム」で検査をしています。
従来の検査では「よく見る」ことが指導されていましたが、ベテラン検査員の機能分析の結果、周辺視、瞬間視、衝撃性眼球運動という視覚システムを活用しています。これらの前提条件とリズムによって生産性は倍になり、さらに光源の種類や強さを最適化することで検査での見逃しが大幅に削減できます。
本セミナーでは、この「周辺視目視検査法」を理解していただけるように解説します。日ごろ見逃しや長時間かかる検査員の育成でお悩みの検査の指導者や管理者、マネジメントされている方々に聞いていただきたい構成となっています。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/2/14 | 外観目視検査の正しい進め方と精度向上すり抜け防止の具体的手法 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/2/18 | 重大事故防止・組織の風土醸成に貢献するノンテクニカルスキル教育の実践・訓練法 | オンライン | |
2025/2/20 | 実践疲労強度設計 | オンライン | |
2025/2/27 | GMP違反とヒューマンエラーに対する教育訓練の考え方とQA視点による抑制・防止対策事例 | オンライン | |
2025/2/27 | GMP/GQP-QAが行うべき逸脱管理とCAPAの適切性の評価とチェックリストの活用 | オンライン | |
2025/2/27 | 改正GMP省令で求められているGMP文書・記録の作成・管理のポイント | オンライン | |
2025/2/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/2/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見) | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (2日間) | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (1) | オンライン | |
2025/3/24 | 信頼性の基礎 (2) | オンライン | |
2025/3/28 | 固体高分子の破壊とタフニング | オンライン | |
2025/3/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/3/31 | 短期にソフトウェア品質を良くする「人間重視の品質改善術」 | オンライン | |
2025/3/31 | セラミックスの破壊規準と強度信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/3/31 | 抜取検査 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 生産プロセスにおけるIoT、ローカル5Gの活用 |
2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/12/31 | 機械学習・ディープラーニングによる "異常検知" 技術と活用事例集 |
2022/11/14 | 外観検査技術 (CD-ROM版) |
2022/11/14 | 外観検査技術 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/3/27 | 医薬品・食品包装の設計と規制・規格動向 - 品質・安全・使用性向上のために - |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2010/10/28 | 薬物動態(「ヘ」項)試験におけるデータ・試験の信頼性確保・保証とQC・QA手法/タイミング |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |