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「VLSI試験/故障解析技術」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2024/4/22 外観検査の概要、目視検査と自動検査の比較、その実際 オンライン
2024/4/22 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2024/4/22 フォトレジスト材料の基礎と課題 オンライン
2024/4/22 品質管理の基礎 (1) オンライン
2024/4/23 技術・製品開発4大課題を解消するロバスト最適化開発法実践入門 オンライン
2024/4/23 半導体パッケージ 入門講座 オンライン
2024/4/24 信頼性基準適用試験における運用への落とし込みと(国内外) 委託時の信頼性保証 オンライン
2024/4/25 5G高度化とDXを支える半導体実装用低誘電特性樹脂・基板材料の開発と技術動向 オンライン
2024/4/26 先端半導体パッケージにおけるボンディング技術 オンライン
2024/4/26 品質管理の基礎 (2) オンライン
2024/4/26 自動車の電動化に向けた半導体封止樹脂の設計と評価 オンライン
2024/4/26 半導体パッケージにおけるチップレット集積技術の最新動向と評価 オンライン
2024/5/7 エヌビディアGPU祭りと半導体不況本格回復への羅針盤 オンライン
2024/5/8 品質管理の基礎 (3) オンライン
2024/5/8 自動車の電動化に向けた半導体封止樹脂の設計と評価 オンライン
2024/5/8 半導体パッケージにおけるチップレット集積技術の最新動向と評価 オンライン
2024/5/10 半導体ウェハの欠陥制御と検出、評価技術 オンライン
2024/5/13 品質管理の基礎 (4) オンライン
2024/5/15 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 オンライン
2024/5/15 ヒューマンエラー・ミスを防ぐための職場管理・作業管理方法と教育訓練 オンライン
2024/5/16 半導体めっきの基礎とめっき技術の最新技術動向 オンライン
2024/5/17 加速試験の成り立ちと各種事例に基づく実践的な加速係数の求め方 東京都 会場・オンライン
2024/5/17 半導体装置・材料のトレンドと今後の展望 オンライン
2024/5/20 信頼性物理に基づく信頼性試験技術 オンライン
2024/5/20 FMEAの必須知識と工程FMEAの実践手法 オンライン
2024/5/20 技術者・研究者向けのプロジェクト進行における異文化教育・コミュニケーション能力向上のポイント オンライン
2024/5/20 上流工程で品質を作り込むトラブル流出ゼロの品質管理手法 オンライン
2024/5/21 チップレット集積技術の最新動向と要素技術展望 オンライン
2024/5/21 プラズマプロセスにおける基礎と半導体微細加工へのプラズマによるエッチングプロセス オンライン
2024/5/22 新製品開発における信頼性予測と役割 オンライン

関連する出版物

発行年月
2024/2/26 EUV (極端紫外線) 露光装置 技術開発実態分析調査報告書
2024/2/26 EUV (極端紫外線) 露光装置 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
2023/9/29 先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2023/4/28 次世代半導体パッケージの最新動向とその材料、プロセスの開発
2022/11/29 半導体製造プロセスを支える洗浄・クリーン化・汚染制御技術
2022/10/31 半導体製造におけるウェット/ドライエッチング技術
2022/6/17 2022年版 電子部品市場・技術の実態と将来展望
2022/6/13 パワー半導体〔2022年版〕
2022/6/13 パワー半導体〔2022年版〕 (CD-ROM版)
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/11/12 レジスト材料の基礎とプロセス最適化
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2021/6/18 2021年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2020/7/17 2020年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2019/7/19 2019年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望
2018/3/20 レジスト材料・プロセスの使い方ノウハウとトラブル解決
2018/1/10 SiC/GaNパワーエレクトロニクス普及のポイント