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半導体デバイスの故障メカニズムと信頼性試験・寿命予測

半導体デバイスの故障メカニズムと信頼性試験・寿命予測

オンライン 開催

アーカイブ配信で受講をご希望の場合、視聴期間は2025年12月12日〜19日を予定しております。
アーカイブ配信のお申し込みは2025年12月17日まで承ります。

概要

本セミナーでは、半導体デバイスの信頼性試験について取り上げ、ワイブルプロットによる寿命予測と確認信頼性試験計画について、図やイラストを交えて分かりやすく説明いたします。

開催日

  • 2025年12月10日(水) 13時00分16時30分

受講対象者

  • 半導体の信頼性技術担当者、製造技術者

修得知識

  • 半導体製品の物理的寿命予測方法
  • 半導体製品の化学的寿命予測方法
  • 故障物性に基づく寿命予測方法を使った信頼性評価計画
  • 半導体集積回路の寿命予測ガイドラインの国際標準化動向

プログラム

 最近の半導体製造ではウェハー製造、パッケージ組立とも製造委託するケースが増えており、品質、信頼性不具合が発生した場合、その被害の拡大と共に、解決までに時間が掛かることが懸念されています。
 これらの品質、信頼性不具合を未然に防いで、製品をいち早く市場に供給する為には、正しい品質、信頼性の知識が不可欠になってきています。
 本講義では、半導体を扱う、品質・信頼性を担当する技術者が最低限理解している必要がある半導体の故障モードと、その不良の市場での寿命を正しく推定することが出来るまでを、加速性、ワイブルプロットによる寿命予測と確認信頼性試験計画について図や、イラストを交えて分かりやすく説明します。

  1. 半導体製品の技術動向と品質要求の推移
  2. 半導体製品で発生する主要魔模様不良モードと加速性
    1. 酸化膜経時破壊 (TDDB)
    2. ホットキャリア劣化
    3. エレクトロマイグレーション
    4. ストレスマイグレーション
    5. 耐湿性
    6. パッケージクラック
    7. パープルプレイグ
  3. パワーデバイス特有の不良モードと試験法
    1. パワーデバイスの主な故障モード
    2. 静電気破壊と過電圧破壊
    3. パワーサイクル試験法と不良モード
  4. SiCデバイスの信頼性の課題と国際規格動向
    1. SiCデバイスの特徴と、課題
    2. SiCデバイスのGate信頼性と、AC-BTI試験のポイント
  5. 半導体集積回路の寿命予測ガイドラインの説明
    1. AEC-Q100の内容と考え方
      • 試験の進め方
      • 条件
      • 問題点
    2. JEITA ED-4708の内容と考え方
      • 品質保証の考え方
      • サンプル数
      • 試験条件の考え方
    3. 国際標準化の状況について
      • 今後の車載認定規格の方向性
    4. ミッションプロファイルを用いた信頼性試験設計

主催

お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 45,000円 (税別) / 49,500円 (税込)
複数名
: 22,500円 (税別) / 24,750円 (税込) (案内をご希望の場合に限ります)

案内割引・複数名同時申込割引について

R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。

「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 36,000円(税別) / 39,600円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。

  • R&D支援センターからの案内を希望する方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 36,000円(税別) / 39,600円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 74,250円(税込)
  • R&D支援センターからの案内を希望しない方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 90,000円(税別) / 99,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 135,000円(税別) / 148,500円(税込)

ライブ配信対応セミナー / アーカイブ配信対応セミナー

  • 「Zoom」を使ったライブ配信またはアーカイブ配信セミナーのいずれかをご選択いただけます。
  • お申し込み前に、 Zoomのシステム要件テストミーティングへの参加手順 をご確認いただき、 テストミーティング にて動作確認をお願いいたします。
  • 開催日前に、接続先URL、ミーティングID​、パスワードを別途ご連絡いたします。
  • セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。
  • セミナー資料は、PDFファイルを配布予定です。
  • タブレットやスマートフォンでも受講可能ですが、機能が制限される場合があります。
  • ご視聴は、お申込み者様ご自身での視聴のみに限らせていただきます。不特定多数でご覧いただくことはご遠慮下さい。
  • 講義の録音、録画などの行為や、権利者の許可なくテキスト資料、講演データの複製、転用、販売などの二次利用することを固く禁じます。

ライブ配信セミナーをご希望の場合

  • Zoomのグループにパスワードを設定しています。お申込者以外の参加を防ぐため、パスワードを外部に漏洩しないでください。
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アーカイブ配信セミナーをご希望の場合

  • 当日のセミナーを、後日にお手元のPCやスマホ・タブレッドなどからご視聴・学習することができます。
  • 配信開始となりましたら、改めてメールでご案内いたします。
  • 視聴サイトにログインしていただき、ご視聴いただきます。
  • 視聴期間は2025年12月12日〜19日を予定しております。
    ご視聴いただけなかった場合でも期間延長いたしませんのでご注意ください。
本セミナーは終了いたしました。

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