技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、トラブルの無い安定した商品の働きを実現するためのパラメータ設計の立案、ばらつき要因の抽出方法と割り付け方法、適切な設計条件・ばらつき条件・の直交表への割り付け、トラブルを起こさない最適条件の決定方法について、実践的に分かりやすく解説いたします。
商品企画の終了後に、その商品を低価格で他社より早く設計を完了すること、信頼性試験・製造トラブルも起こさない安定した設計・製造技術を開発することが大きな課題である。
本セミナーでは、将来起こるかもしれない多くの問題を未然に防止する考え方とそれを実現するパラメータ設計手法を習得する。また、事例紹介で使用したExcelワークシートを実践で活用できる。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
ライブ配信・アーカイブ配信受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料 1,100円(税別) / 1,210円(税込) を頂戴します。
会場受講、ライブ配信、アーカイブ配信のいずれかをご選択いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/4/27 | 明日からできる統計的因果推論 | オンライン | |
| 2026/4/27 | 明日からできる統計的因果推論 | オンライン | |
| 2026/4/27 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/4/27 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
| 2026/4/28 | ヒューマンエラー (ポカミス) の未然防止・撲滅の考え方と効果的なポカヨケの進め方 | オンライン | |
| 2026/5/8 | 外観検査管理者のための実践講座 | オンライン | |
| 2026/5/11 | 設計プロセスにおけるデジタル技術と生成AIの活用法 | オンライン | |
| 2026/5/11 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
| 2026/5/12 | 電気・電子機器の信頼性と安全性、発火防止における原理・原則と具体策 | オンライン | |
| 2026/5/12 | 不良予測と予兆診断、予知保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/5/13 | AIエージェントの基礎と業務導入のポイント | オンライン | |
| 2026/5/14 | 図解と演習で学ぶ実験計画法入門 | オンライン | |
| 2026/5/15 | 製造業における外注品質向上のための管理ポイント | オンライン | |
| 2026/5/15 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
| 2026/5/15 | 生成AIとスプレッドシートのAI関数による特許調査手法 | オンライン | |
| 2026/5/18 | 本当に使えるFMEA・DRBFMの活用法 | オンライン | |
| 2026/5/19 | 最適な生産計画の出発点となるAI需要予測のポイント | オンライン | |
| 2026/5/20 | AIを使った非線形実験計画法と実験計画法 | オンライン | |
| 2026/5/20 | はじめての薬物動態学シリーズ 全2日間セミナー | オンライン | |
| 2026/5/20 | はじめての薬物動態学入門 - 基礎編 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/2/28 | 撹拌装置の設計とスケールアップ |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 2000/8/1 | ページャ受信機設計技術 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |