技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
本セミナーでは、トラブルの無い安定した商品の働きを実現するためのパラメータ設計の立案、ばらつき要因の抽出方法と割り付け方法、適切な設計条件・ばらつき条件・の直交表への割り付け、トラブルを起こさない最適条件の決定方法について、実践的に分かりやすく解説いたします。
商品企画の終了後に、その商品を低価格で他社より早く設計を完了すること、信頼性試験・製造トラブルも起こさない安定した設計・製造技術を開発することが大きな課題である。
本セミナーでは、将来起こるかもしれない多くの問題を未然に防止する考え方とそれを実現するパラメータ設計手法を習得する。また、事例紹介で使用したExcelワークシートを実践で活用できる。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
ライブ配信・アーカイブ配信受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料 1,100円(税別) / 1,210円(税込) を頂戴します。
会場受講、ライブ配信、アーカイブ配信のいずれかをご選択いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/5/13 | 実験・測定に必要な統計の基礎とデータ解析のポイント | オンライン | |
2025/5/13 | 異常検知への生成AI活用と判断の標準化、高精度化 | オンライン | |
2025/5/15 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 速習 | オンライン | |
2025/5/15 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
2025/5/16 | 実験の実務: 効率的、確実に目的を達成できる実験内容の考え方 | オンライン | |
2025/5/19 | 技術者・研究者向けのプロジェクト進行における異文化教育・コミュニケーション能力向上のポイント | オンライン | |
2025/5/20 | 設計プロセスでの生成AIの活用法 | オンライン | |
2025/5/21 | 信頼性物理に基づく故障解析技術 | オンライン | |
2025/5/23 | 検定・推定 (主に計量値) | オンライン | |
2025/5/26 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
2025/5/26 | 設計プロセスでの生成AIの活用法 | オンライン | |
2025/5/26 | 技術者・研究者向けのプロジェクト進行における異文化教育・コミュニケーション能力向上のポイント | オンライン | |
2025/5/27 | 統計手法の基礎 | オンライン | |
2025/5/30 | 開閉接点・摺動接点・接続接点の接触理論と故障モード・メカニズムならびにその対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/5/30 | 検定・推定 (主に計数値) | オンライン | |
2025/6/3 | トヨタ流DR・DRBFMと失敗学 | オンライン | |
2025/6/5 | 汎用的インフォマティクス&統計的最適化 実践入門 | オンライン | |
2025/6/6 | 管理図 | オンライン | |
2025/6/6 | 時系列データ分析の基礎と実務への応用 | オンライン | |
2025/6/11 | 外観検査の "あいまいさ" を無くし判定精度を上げる外観 & 目視検査の正しい進め方 | 東京都 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/2/28 | 撹拌装置の設計とスケールアップ |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2000/8/1 | ページャ受信機設計技術 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |