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「VLSI試験/故障解析技術」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/9/24 半導体パッケージの基礎知識、最新技術動向と課題 オンライン
2026/9/24 電子部品・材料の故障解析技術 オンライン
2026/9/25 半導体量子ビットの基礎と研究動向および技術課題と展望 オンライン
2026/9/28 FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 オンライン
2026/9/28 半導体製造装置用セラミックス部材の開発動向とプラズマ耐性向上 オンライン
2026/9/29 検査員の意識改革と検査業務改善の進め方 東京都 会場・オンライン
2026/9/29 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 オンライン
2026/9/29 半導体市場の動向と半導体産業の今後の見通し オンライン
2026/9/29 半導体パッケージの最新動向と半導体封止材の設計・評価技術 オンライン
2026/9/30 フォトレジストの材料設計と先端半導体プロセス技術 オンライン
2026/9/30 DFT技術の最新動向と2.5D/3D-IC対応の実践ポイント オンライン
2026/9/30 半導体ウェット洗浄の基礎・実践と最新洗浄技術 オンライン
2026/10/1 DFT技術の最新動向と2.5D/3D-IC対応の実践ポイント オンライン
2026/10/2 トヨタに学ぶ変化点管理とDRBFMの実践 オンライン
2026/10/2 2nm以降半導体向け配線技術の最新動向と材料、プロセスへの要求特性 オンライン
2026/10/2 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/10/2 品質管理の基礎 (1) オンライン
2026/10/2 半導体 (IC) の製造工程と半導体用素部材の基本情報 オンライン
2026/10/6 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 オンライン
2026/10/7 FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 オンライン
2026/10/7 試験部門 (QC) におけるデータの電子化とインテグリティ対策 オンライン
2026/10/7 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 オンライン
2026/10/8 三次元集積化プロセスの基礎と先進半導体パッケージの最新動向 オンライン
2026/10/8 ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験、リテスト期間/有効期間の予測方法と統計学的解析による設定方法 オンライン
2026/10/8 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 オンライン
2026/10/8 異物ゼロへの実践メソッド 東京都 会場・オンライン
2026/10/8 生成AIを活用した製造業におけるヒューマンエラー・ポカミスの要因分析・未然防止 オンライン
2026/10/8 パワー半導体実装部の熱疲労信頼性設計へ向けた機械負荷試験評価法 オンライン
2026/10/9 半導体製造装置の基礎・トレンドと今後の展望 (2026年秋版) オンライン
2026/10/9 生成AIを活用した製造業におけるヒューマンエラー・ポカミスの要因分析・未然防止 オンライン
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