技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、開発設計段階で活用する手法で発生する矛盾を、妥協するのではなく、矛盾を解くための方法について解説いたします。
数百~数万通りの設計条件の組み合わせの中から短時間に最適な設計案を決定しなければならなりません。
そのためには、市場でばらつきの原因となる、温度・湿度、ならびに長期間使用したときに製品の特性がばらついて商品が使用できなくなったり、故障しシステムダウンとなる設計を行ってはいけません。
そのためには、開発段階で市場に投入されたときに、影響を受けるばらつき要因があっても影響を受けない設計をすることがポイントになります。大半の設計は、設計が完了してから環境と加速寿命試験を行い、製品の出来栄えを評価している企業は少なくありません。設計が完了してからのトラブル対策は、やり直しのロスコストが増加し会社の利益を減少させてしまいます。また、設計図面通り、工程を設計し量産に移行した後で、最終検査工程で歩留まりが悪くなるような公差を設定してはいけません。
歩留まりが良く、市場トラブルのない製品をどのように開発するのかについて学ぶための入門コースの受講をお勧めいたします。
セミナー終了後の個別相談の対応をいたします。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/4/25 | ヒューマンエラー (ポカミス) の未然防止・撲滅の考え方と効果的なポカヨケの進め方 | オンライン | |
2025/4/25 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/4/25 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2025/4/30 | 未知の異常も検知する人工知能MTシステム (MT法) 基礎と応用入門 | オンライン | |
2025/5/8 | 図解と演習で学ぶ実験計画法入門 | オンライン | |
2025/5/12 | Excel業務の改善術入門 | オンライン | |
2025/5/12 | 信頼性物理に基づく故障解析技術 | オンライン | |
2025/5/13 | 実務に役立つQFD (Quality Function Deployment:品質機能展開) の基礎と活用に向けた具体的ポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/5/13 | 実験・測定に必要な統計の基礎とデータ解析のポイント | オンライン | |
2025/5/13 | 異常検知への生成AI活用と判断の標準化、高精度化 | オンライン | |
2025/5/13 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/5/15 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 速習 | オンライン | |
2025/5/15 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
2025/5/16 | 実験の実務: 効率的、確実に目的を達成できる実験内容の考え方 | オンライン | |
2025/5/16 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/5/19 | 技術者・研究者向けのプロジェクト進行における異文化教育・コミュニケーション能力向上のポイント | オンライン | |
2025/5/20 | 本当に使えるFMEA・DRBFMの活用法 | オンライン | |
2025/5/20 | 設計プロセスでの生成AIの活用法 | オンライン | |
2025/5/21 | 信頼性物理に基づく故障解析技術 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/2/28 | 撹拌装置の設計とスケールアップ |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2000/8/1 | ページャ受信機設計技術 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |