技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
統計処理の基礎と正規分布・ワイブル分布解析
自動車や電子部品の信頼性・故障解析に欠かせない!
統計処理の基礎と正規分布・ワイブル分布解析
～基礎から正規分布、故障データに使うワイブル分布～
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
概要
本セミナーは、統計処理の基礎から解説し、正規分布、故障データに使うワイブル分布の解析について詳解いたします。
開催日
- 2014年8月26日(火) 10時30分 ～ 16時30分
受講対象者
- 自動車や電子部品に関連する技術者、研究者、品質担当者
修得知識
- 統計処理に用いる統計量を理解し、最小二乗法を事例にした活用法
- 正規分布、ワイブル分布の式の理解
プログラム
標準偏差・工程能力・相関係数など、聞いたことが有る方やパソコンで計算したことが有る方は多いと思います。しかし物事の本質に迫るには基本に立ち返ることが大切です。基本式からパラメータを導き出せれば、特性やリスクを知り、より信頼性保証の業務に役立ちます。
本講座では、基礎から正規分布、故障データに使うワイブル分布について解説します。
- はじめに
- 分布とパラメータ
- データの相関
- 相関係数
- 最小二乗法
- 【例題】最小二乗法の係数計算
- 母集団とサンプリング
- 確率密度関数
- 正規分布
- 正規分布
- 偏差値
- 工程能力
- 点推定
- 区間推定
- 故障率分布のモデル
- 信頼度関数
- ハザード関数
- バスタブ曲線
- ワイブル分布
- ワイブル分布の式
- ワイブル確率紙の軸の設定
- ワイブル分布のパラメータ
- ワイブル分布のプロット方法
- 完全データのプロット方法
- 【デモ】ワイブル確率紙による分布パラメータ推定
- 不完全データのプロット方法
- ワイブルプロット事例
- 質疑応答・名刺交換
講師
- 相原 敏彦 氏
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
42,750円 (税別) / 46,170円 (税込)
複数名
:
22,500円 (税別) / 24,300円 (税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名同時申込みで1名分無料
- 1名あたり定価半額の22,500円(税別) / 24,300円 (税込)
- 2名様ともS&T会員登録をしていただいた場合に限ります。
- 同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
- 3名様以上のお申込みの場合、上記1名あたりの金額で受講できます。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。 - 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。
これから開催される関連セミナー
関連する出版物
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2023/6/30 | 生産プロセスにおけるIoT、ローカル5Gの活用 |
| 2022/8/31 | 医療機器の設計開発における統計的手法とそのサンプルサイズ設定 |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2021/6/28 | AI・MI・計算科学を活用した蓄電池研究開発動向 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2018/4/25 | 統計学的アプローチを活用した分析法バリデーションの評価及び妥当性 |
| 2017/5/10 | 分析法バリデーション実務集 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |