技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
本セミナーでは、外観検査の課題、検査員の選び方と育て方、外観品質基準の設定方法、外観品質の確保、外観検査データの解析手法と手順について、具体的な事例を交えてわかりやすく解説いたします。
外観検査は、管理がとても難しい業務の1つです。「外観検査の基準があいまいで、不良流出が発生してしまう」「検査員ごとに判断基準が違い、品質が安定しない」といった声をよく耳にします。本セミナーでは、感覚や経験に頼った検査から抜け出し、外観品質のバラつきや不良流出のリスクを抑える方法を、バックグラウンドの異なる2名の講師が徹底解説いたします。
セミナーの前半では、外観検査に関わる問題がどこにあるのかを、簡易診断を通じて把握する方法を紹介し、外観検査が持つ曖昧さと、外観不良への対応方法をご理解頂きます。これにより、自社が抱える外観検査の問題点を把握するために必要な知識を習得いただきます。
セミナー後半では、外観検査に関連する問題の解決手法を、具体的な施策を交えてご紹介します。まず、検査員の採用・育成では、検査に適性のある要員を採用する方法に加え、検査員に身に付けて欲しい2つの能力「正しく判定できる能力」と「安定して成果を出せる能力」について解説します。そして、検査作業を円滑に実施する為に大切な、品質基準を反映した検査見本を作成し、検査作業で活用する方法をご紹介します。加えて、外観検査の結果をデータ解析する手法をご理解いただくことで、感覚や経験に頼った検査から脱却するために必要な知識の習得を目指します。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
ライブ配信・アーカイブ配信受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料 1,100円(税別) / 1,210円(税込) を頂戴します。
会場受講、ライブ配信、アーカイブ配信のいずれかをご選択いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/5/23 | 簡便化、抜け防止の観点をふまえたGMP SOP/製造指図記録書の形式・作成 (改訂) ・記入方法 | オンライン | |
2025/5/28 | 簡便化、抜け防止の観点をふまえたGMP SOP/製造指図記録書の形式・作成 (改訂) ・記入方法 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/5/30 | 開閉接点・摺動接点・接続接点の接触理論と故障モード・メカニズムならびにその対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/6 | 簡便化、抜け防止の観点をふまえたGMP SOP/製造指図記録書の形式・作成 (改訂) ・記入方法 | オンライン | |
2025/8/28 | GMP違反とヒューマンエラーに対する教育訓練の考え方とQA視点による抑制・防止対策事例 | オンライン | |
2025/8/28 | GMP/GQP-QAが行うべき逸脱管理とCAPAの適切性の評価とチェックリストの活用 | オンライン | |
2025/8/28 | 改正GMP省令で求められているGMP文書・記録の作成・管理のポイント | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 生産プロセスにおけるIoT、ローカル5Gの活用 |
2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/12/31 | 機械学習・ディープラーニングによる "異常検知" 技術と活用事例集 |
2022/11/14 | 外観検査技術 (CD-ROM版) |
2022/11/14 | 外観検査技術 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/3/27 | 医薬品・食品包装の設計と規制・規格動向 - 品質・安全・使用性向上のために - |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |