技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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アーカイブ配信で受講をご希望の場合、視聴期間は2024年9月10日〜20日を予定しております。
アーカイブ配信のお申し込みは2024年9月18日まで承ります。
本セミナーでは、なぜなぜ分析を正しく実施するための目的・手順・フォーマットなどを詳解いたします。
なぜなぜ分析は、主に発生した問題の原因を探り、絞り込むためのツールとして使われています。しかし、必ずしも問題解決を図る上で有効なツールとして使われていないケースも多く、問題が市場に流出し、トラブルに発展するケースも多く見受けられます。
なぜなぜ分析は、「なぜなぜ (5回) を繰り返して原因を探る」と言われていますが、明確な手順が示されているとは言えません。製造工程で発生する「機械の故障」「人的ミス」「材料の不良」「作業指示の不徹底」などから発生する様々な問題は、何が原因で起こるのでしょうか?何を最終的な原因 (根本原因) と捉えればいいでしょうか?
本講座では、なぜなぜ分析の現状と問題点を指摘し、再発防止と水平展開を確実に実施するためのなぜなぜ分析の基本形と目的別応用手順を徹底的に解説します。
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/6/6 | 管理図 | オンライン | |
2025/6/9 | 信頼性物理に基づく信頼性創り込みと信頼性試験技術 | オンライン | |
2025/6/11 | 外観検査の "あいまいさ" を無くし判定精度を上げる外観 & 目視検査の正しい進め方 | 東京都 | オンライン |
2025/6/17 | FMEA・DRBFMの基礎と効率的で効果的な活用法とポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/20 | 品質管理の応用と実践 | オンライン | |
2025/6/20 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/6/20 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2025/6/27 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/30 | 医薬品の要求品質の明確化と外観検査のポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/30 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2025/7/4 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/7/8 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/8/6 | 管理図 | オンライン | |
2025/8/28 | GMP違反とヒューマンエラーに対する教育訓練の考え方とQA視点による抑制・防止対策事例 | オンライン | |
2025/8/28 | GMP/GQP-QAが行うべき逸脱管理とCAPAの適切性の評価とチェックリストの活用 | オンライン | |
2025/8/28 | 改正GMP省令で求められているGMP文書・記録の作成・管理のポイント | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/3/27 | 医薬品・食品包装の設計と規制・規格動向 - 品質・安全・使用性向上のために - |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |