技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、自社の課題に有効な手法を選択・活用できるようになることを主眼に、異常診断技術の本質や考え方、異常診断に活用される機械学習手法とMTシステムの基礎と応用、異常診断技術の適用事例などを解説いたします。
AI・IoT技術の進展に伴い、製造業においても多くの企業で技術導入に向けた取り組みが活発です。実際に手を動かしている方は痛感していることが多いかと思いますが、AI技術に対して過度な期待や誤解も多く、データを蓄積し機械学習を適用すれば、劇的な改善が期待できると考えておられる方も少なくありません。
実際の現場において、AI技術を活用するためには最新の優れた手法のみに着目するのではなく、課題の整理、適切なセンシング・データ採取、必要十分な解析手法の選択・適用といった基本的なアプローチこそが重要となります。
そこで、本セミナーでは異常検知の分野において、長年の実績を有するMTシステムや機械学習 (深層学習) 手法をJuter Notebookを使いながら基礎からビジュアルに解説し、各手法の長所・短所に関して基本的な理解を深めていただきます。また、適用事例としてAE (Acoustic Emission) センサを用いた回転機械の状態モニタリングおよび異常診断について紹介いたします。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2024/6/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見) | オンライン | |
2024/7/1 | ISO 13485:2016対応に必須の医療機器プロセスバリデーション (進め方、統計的手法とそのサンプルサイズ) | オンライン | |
2024/7/2 | GMP/GQP-QAが行うべき逸脱管理とCAPAの適切性の評価とチェックリストの活用 | オンライン | |
2024/7/5 | 小規模データに対する機械学習の効果的適用法 | オンライン | |
2024/7/8 | ディープラーニングと機械学習プロジェクトの進め方 | オンライン | |
2024/7/9 | 画像認識技術を用いたAI外観検査の現場導入事例と精度向上技術 | オンライン | |
2024/7/10 | 半導体・回路素子・電子部品における寿命の故障モードとその故障の寿命予測法 | 東京都 | 会場・オンライン |
2024/7/10 | 異常検知、学習データ作成への生成AI活用 | オンライン | |
2024/7/12 | 信頼性試験と故障解析の理論と実践 | オンライン | |
2024/7/16 | QC (試験部門) における効果的な電子化、電子化後のデータファイルの保管・管理における実務ポイント | オンライン | |
2024/7/22 | 画像認識技術入門 | オンライン | |
2024/7/23 | 非GLP試験での信頼性基準試験におけるリスクベースドアプローチを用いた信頼性保証 | オンライン | |
2024/7/23 | 管理図 | オンライン | |
2024/7/25 | ディープニューラルネットワークモデル/MTシステムの基礎と学習データ最小化 | オンライン | |
2024/8/5 | 機械学習 実践編 | オンライン | |
2024/8/30 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2024/9/19 | 信頼性の基礎 (2日間) | オンライン | |
2024/9/19 | 信頼性の基礎 (1) | オンライン | |
2024/9/25 | 信頼性の基礎 (2) | オンライン | |
2024/9/27 | 医薬品の多様性を考慮した外観目視検査における要求品質の明確化と異物低減対策の具体的ポイント | オンライン |
発行年月 | |
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2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/21 | 機械学習によるパターン識別と画像認識への応用 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2010/10/28 | 薬物動態(「ヘ」項)試験におけるデータ・試験の信頼性確保・保証とQC・QA手法/タイミング |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1993/3/1 | 新しいサーボ制御の基礎と実用化技術 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |