技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、半導体物性及びデバイス特性と、パワーエレクトロニクス回路との特性を「つなぐ」考え方を学びます。パワーデバイスの特性を理解し、サクサクとパワエレ回路を設計したい… 多くの回路設計者がそう思うにもかかわらず、パワーデバイスの基礎である半導体物理について学ぼうとすると難解な理論と数式に阻まれます。また、デバイス特性では、多くの数式が紹介され、式の重要性を見極めるのに苦労し、独学での習得は容易ではありません。
そこで、本講座では、以下の3つのステップを通して、半導体物性、パワーデバイスの特性を理解できるように工夫しています。
実用的な観点から、パワーエレクトロニクス回路で多用されているダイオード、IGBT、MOSFETの3種類について特に詳しく説明します。また、最近注目されているSiCやGaNといったワイドギャップ半導体については、耐圧と温度特性のメリットを具体的数値例で理解します。さらに、安定動作に欠かせないドライブ回路、発熱による損傷などのトラブル防止や回避策についても紹介します。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/5/26 | 電源回路設計入門 (2) | オンライン | |
2025/5/28 | インバータの基礎と制御技術 | オンライン | |
2025/5/29 | 半導体装置・材料のトレンドと今後の展望 (2025年版) | オンライン | |
2025/5/30 | 開閉接点・摺動接点・接続接点の接触理論と故障モード・メカニズムならびにその対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/5/30 | 物理学で理解するEUVリソグラフィの基礎・応用・課題と将来展望 | オンライン | |
2025/6/3 | リチウムイオン電池の基礎と高性能化を実現するシリコン負極の最新技術 | オンライン | |
2025/6/3 | インバータの基礎と制御技術 | オンライン | |
2025/6/11 | 設計者CAE 構造解析編 (強度) | オンライン | |
2025/6/27 | リチウムイオン電池のリユース・リサイクルの現状と課題、今後の展望 | オンライン | |
2025/6/27 | リチウムイオン電池の負極活物質 | オンライン | |
2025/6/30 | 電子回路の公差設計入門 | オンライン | |
2025/7/4 | リチウムイオン電池のリユース・リサイクルの現状と課題、今後の展望 | オンライン | |
2025/8/4 | 電源回路設計入門 (2日間) | オンライン | |
2025/8/4 | 電源回路設計入門 (1) | オンライン | |
2025/8/5 | 設計者CAEのための材料力学 (理論と手計算) | オンライン | |
2025/8/18 | 電源回路設計入門 (2) | オンライン | |
2025/9/18 | 設計者CAE 構造解析編 (強度) | オンライン | |
2025/9/29 | 電子回路の公差設計入門 | オンライン |
発行年月 | |
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2010/6/5 | 半導体技術10社 技術開発実態分析調査報告書 |
2010/5/14 | SiCパワーデバイス最新技術 |
2010/2/1 | '10 電気自動車新ビジネスの将来展望 |
2009/12/1 | '10 蓄電デバイス市場の実態と将来展望 |
2009/11/16 | 車載用Liイオンバッテリとシステム開発 |
2009/10/23 | HEV・EV電池の特性解析 & LiB材料の需要予測 |
2009/8/10 | 自転車 (電動自転車含む) 技術開発実態分析調査報告書 |
2009/8/10 | 自転車 (電動自転車含む) 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
2009/8/1 | '10 電池業界の実態と将来展望 |
2009/5/12 | リチウムイオン二次電池構成材料の解析と需要予測 (データCD付属) |
2009/5/12 | リチウムイオン二次電池構成材料の解析と需要予測 (データCDなし) |
2009/4/17 | '09 ノイズ対策関連市場の将来展望 |
2008/9/1 | 半導体製造用炭化ケイ素 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
2008/9/1 | 半導体製造用炭化ケイ素 技術開発実態分析調査報告書 |
2006/6/1 | イオン性液体の企業化動向と市場形成予測 |
1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
1999/2/26 | ソフトスイッチング電源技術 |
1993/3/1 | 電源系統における高調波歪規制と対策/測定技術 |
1992/11/27 | 液晶パネル用バックライト技術 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |