技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

車載半導体の信頼性 5時間講座

車載半導体の信頼性 5時間講座

～品質目標、IC検査率、ESD、EMC、実装信頼性と寿命～
東京都 開催 会場 開催
関連するセミナー・出版物
本セミナーは終了いたしました。
セミナーの再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す

概要

本セミナーは、重要性を増す、マイクロエレクトロニクスでのEMC、およびパワーエレクトロニクスでのデバイス信頼性と、 「PPMオーダの故障率」から「ゼロデフェクト」へ、車載専用化に向けた信頼性を解説いたします。

開催日

  • 2014年8月28日(木) 10時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 車載半導体に関連する技術者、研究者、品質担当者

修得知識

  • 車載半導体の品質目標
  • 車載半導体のIC検査率
  • 車載半導体のESD
  • 車載半導体のEMC
  • 車載半導体の実装信頼性と寿命

プログラム

動く電子システムとなった自動車では電子システムの信頼性設計が重要である。ISO26262にその設計指針が示されているが、マイコンなど半導体の品質に依存する要素が多い。微細化・低電圧駆動が進む半導体はデバイス設計の段階から車載専用化が必要で、車載半導体は規格・品質でも一般用途と分化し差別化が進んでいる。品質目標も「PPMオーダの故障率」から「ゼロデフェクト」となり、一層のレベルアップが必要とされる。 車載半導体の信頼性はEMCとデバイス寿命に代表されるが、前者は制御系マイクロエレクトロニクスで、後者は拡大するパワーエレクトロニクスで重要さが増している。
  1. 車載電子システムの動向と半導体
    1. マイクロエレクトロニクス
    2. パワーエレクトロニクス
  2. 電子システムの信頼性
    1. ISO26262
    2. 電子信頼性
  3. 車載半導体の品質目標
    1. バスタブカーブ
    2. ゼロデフェクト
  4. ICの検査率
    1. 高耐圧系デジアナIC
    2. 素子欠陥
    3. MOSロジック設計とテスト
    4. テストカバレージ
    5. スクリーニング
    6. ゼロデフェクト
  5. 半導体のESD耐量
    1. ESD試験と放電経路
    2. ESD耐量保証
    3. 微小破壊と揮発性故障
  6. EMC環境
    1. ECUの電磁環境試験
    2. ECUの誤動作
    3. マイコンの誤動作
    4. ESD試験
  7. 半導体のESDイミュニティ
    1. システムレベルESD
    2. 誤動作メカニズムとラッチアップ
    3. ラッチアップのメカニズム
    4. トランジェントラッチアップ
    5. システムLSIのEMC設計
  8. 実装信頼性
    1. パワーデバイスの寿命
    2. 半田寿命
    3. パッケージ技術
    • 質疑応用・名刺交換
ページのトップヘ

講師

ページのトップヘ

会場

ゆうぽうと

5F くれない東

東京都 品川区 西五反田8-4-13
ゆうぽうとの地図
ページのトップヘ

主催

サイエンス＆テクノロジー 株式会社
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 42,750円 (税別) / 46,170円 (税込)
複数名
: 22,500円 (税別) / 24,300円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名同時申込みで1名分無料
    • 1名あたり定価半額の22,500円(税別) / 24,300円 (税込)
    • 2名様ともS&T会員登録をしていただいた場合に限ります。
    • 同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
    • 3名様以上のお申込みの場合、上記1名あたりの金額で受講できます。
    • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
    • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
      申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。
    • 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。
セミナーの再開催を依頼する
ページのトップヘ

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/3/3 軽EV (軽の電気自動車) を始めとした次世代自動車の最新動向と事業機会 オンライン
2026/3/4 先端半導体デバイスにおけるCu/Low-k多層配線技術と2.5D/3Dデバイス集積化技術の基礎〜最新開発動向 オンライン
2026/3/4 再構築が進むリチウムイオン電池 2026 オンライン
2026/3/4 プラズマの基礎特性と半導体成膜、エッチングでの応用技術 オンライン
2026/3/5 先端半導体パッケージの放熱・冷却技術と熱マネジメント オンライン
2026/3/5 チップレット実装テスト、評価技術 オンライン
2026/3/6 生成AIの隆盛に伴う半導体装置・材料のトレンドと今後の展望 (2026年版) オンライン
2026/3/6 次世代自動車に求められる電動化・自動運転技術のメカニズムと構成要素、今後の展望 オンライン
2026/3/6 自動運転用センサフュージョンの基礎と適用動向 オンライン
2026/3/6 半導体市場の動向と主要メーカーの開発状況 オンライン
2026/3/6 オフライン電源の設計 (3日間) オンライン
2026/3/6 自動車ライト・主要デバイスの最新動向 アプリケーショントレンド オンライン
2026/3/12 インキャビンセンシング (ドライバ監視・車室内モニタリング) 技術開発のポイントと最新市場トレンド オンライン
2026/3/13 電極スラリーの製造技術とバインダによる電極特性 オンライン
2026/3/13 プラズマの基礎特性と半導体成膜、エッチングでの応用技術 オンライン
2026/3/16 半導体市場の動向と主要メーカーの開発状況 オンライン
2026/3/16 クライオエッチングの反応メカニズムと高アスペクト比加工技術 オンライン
2026/3/16 シリコン・パワー半導体におけるCMPの技術動向 オンライン
2026/3/17 半導体製造ラインの汚染の実態と歩留向上のためのシリコンウェーハ表面汚染防止技術の基礎から最新動向まで 東京都 会場・オンライン
2026/3/17 半導体用レジストの基礎とプロセスの最適化およびEUVリソグラフィ技術・材料の最新動向 オンライン
ページのトップヘ

関連する出版物

発行年月
2023/11/30 EV用電池の安全性向上、高容量化と劣化抑制技術
2023/11/29 リチウムイオン電池の拡大、材料とプロセスの変遷 2023
2023/11/29 リチウムイオン電池の拡大、材料とプロセスの変遷 2023 [書籍 + PDF版]
2023/11/14 x/zEV用電池の拡大 (目標、現状とグローバルな態勢) [書籍 + PDF版]
2023/11/14 x/zEV用電池の拡大 (目標、現状とグローバルな態勢)
2023/9/29 先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術
2023/7/6 x/zEVへの転換2023 (各国の現状、目標と課題) [書籍 + PDF版]
2023/7/6 x/zEVへの転換2023 (各国の現状、目標と課題)
2023/6/9 2023年版 リチウムイオン電池市場の実態と将来展望
2023/5/12 2023年版 EMC・ノイズ対策市場の実態と将来展望
2023/4/28 次世代半導体パッケージの最新動向とその材料、プロセスの開発
2023/4/6 電池の回収・リユース・リサイクルの動向およびそのための評価・診断・認証
2023/3/10 2023年版 二次電池市場・技術の実態と将来展望
2022/11/29 半導体製造プロセスを支える洗浄・クリーン化・汚染制御技術
2022/10/31 半導体製造におけるウェット/ドライエッチング技術
2022/9/16 2022年版 蓄電池・蓄電部品市場の実態と将来展望
2022/8/19 2022年版 リチウムイオン電池市場の実態と将来展望
2022/7/27 次世代パワーエレクトロニクスの課題と評価技術
2022/6/30 自動運転車に向けた電子機器・部品の開発と制御技術
2022/6/30 二次電池の材料に関する最新技術開発
ページのトップヘ