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「実務に役立つ品質機能展開 (QFD) の基礎と活用へのポイント」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2025/11/25 品質保証のためのデザインレビューの効率的・有効な進め方 東京都 会場・オンライン
2025/11/25 外観検査を自動化する知識と技術 オンライン
2025/11/25 コンプライアンス違反を起こさない・繰り返さないQA・QC教育の体制構築と訓練効果の確認の手引き オンライン
2025/11/25 ChatGPTによるQC工程表、作業標準書の作成とプロンプト設計 オンライン
2025/11/27 製品開発における2つの加速試験の使い方 オンライン
2025/11/28 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバストデザイン オンライン
2025/11/28 公差設計入門 オンライン
2025/12/1 モータ品質トラブル対策の実務と事例で学ぶ解決ノウハウ 東京都 会場・オンライン
2025/12/4 新製品開発に役立つ信頼性加速試験の使い分け オンライン
2025/12/4 ChatGPTによるQC工程表、作業標準書の作成とプロンプト設計 オンライン
2025/12/5 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2025/12/5 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 オンライン
2025/12/5 品質管理の基礎 (1) オンライン
2025/12/8 GMP省令/行政査察対応を踏まえた変更/逸脱管理と処理手順書作成 オンライン
2025/12/8 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 オンライン
2025/12/9 技術者のための問題解決力・課題発見力強化セミナー オンライン
2025/12/9 コンプライアンス違反を起こさない・繰り返さないQA・QC教育の体制構築と訓練効果の確認の手引き オンライン
2025/12/9 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 速習 オンライン
2025/12/10 半導体デバイスの故障メカニズムと信頼性試験・寿命予測 オンライン
2025/12/11 QC (試験部門) における効果的な電子化、電子化後のデータファイルの保管・管理における実務ポイント オンライン
2025/12/11 金属材料の疲労破壊の基礎と設計手法 オンライン
2025/12/11 半導体デバイスの故障メカニズムと信頼性試験・寿命予測 オンライン
2025/12/11 研究開発・製品開発投資の収益性評価と費用配賦の考え方・進め方 オンライン
2025/12/12 金属材料の疲労破壊の基礎と設計手法 オンライン
2025/12/15 医薬品開発における安定性試験実施のポイント オンライン
2025/12/15 研究開発部門を対象とした情報収集のテクニック 東京都 会場
2025/12/15 AIを使ったなぜなぜ分析実践演習 (後編) オンライン
2025/12/15 AIを使ったなぜなぜ分析実践演習 (前編 + 後編) オンライン
2025/12/15 品質管理の基礎 (2) オンライン
2025/12/16 自社保有技術・コア技術をベースとした革新的テーマ (製品アイデア) の創出活動 オンライン

関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2022/2/28 With・Afterコロナで生まれた新しい潜在・将来ニーズの発掘と新製品開発への応用
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2018/5/31 “人工知能”の導入による生産性、効率性の向上、新製品開発への活用
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/7/16 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
2013/7/16 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験
1985/10/1 電子部品・電子装置の環境信頼性試験