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実験で理解する最先端電子デバイス/システムの静電気障害とその対策

実験で理解する最先端電子デバイス/システムの静電気障害とその対策

～誘導ESD障害 … その発生メカニズムと対策～
東京都 開催 会場 開催 実験付き
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概要

本セミナーでは、静電気の基礎から解説し、誘電ESDのメカニズム、原因、測定・評価、防止対策、除去法など、静電気対策について実験を交えて詳解いたします。

開催日

  • 2012年3月27日(火) 10時00分 ～ 17時00分

受講対象者

  • 静電気対策が必要な製品に関連する技術者
    • 電子機器
    • 電子デバイス など
  • 静電気対策で課題を抱えている担当者、管理者

修得知識

  • 静電気・誘電ESDの基礎
  • 誘電ESDの破壊・誤動作原理
  • 誘電ESDの障害事例
  • 誘電ESD対策の実際
  • 誘電ESDに関する実験

プログラム

　手を触れていないのに機器が暴走、装置の近くを人が通過した時にシステムダウンが発生、デバイスの近くから離れた時にこれが破壊、IECの放電試験で20kVをクリアしている製品が市場で障害を起こす、等 従来の静電気では説明が難しい障害が多発化の傾向にある。
　本セミナーでは、新しい体系である “誘導ESD事象” を取り上げ、これによる障害発生メカニズムと、対策について実験機材/測定器を豊富に使い、わかりやすく解説する。

講義

  • 静電気の実態とその測定
  • 動的な静電誘導の実際
  • 誘導ESDとは何か
  • 誘導ESDによる障害事例
  • 誘導ESDによる部品破壊メカニズム
  • 誘導ESDによる回路誤動作メカニズム
  • 誘導ESD対策の実際

実験

  • 静電荷の発生
  • 静電気の極性
  • 静電気測定のよくある間違い
  • 静電気放電 (ESD) の簡単な見つけ方
  • 誘導ESDの発生と検出
  • 誘導ESDによる部品破壊
  • 誘導ESDによる回路誤動作
  • ESD対策資材の比較

主な実験機材/測定器

  • オシロスコープ
  • EMIパワーメータ
  • 電荷量計
  • 静電電圧計
  • 表面電位計
  • 誘導ESD発生装置
  • 高電圧電源
  • 高感度ESD検出器
  • 過渡電磁界極性識別装置
  • 最新デバイス (破壊対象)
  • 高速論理回路 (誤動作対象)
  • 各種情報ケーブル 他
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講師

  • 本田 昌實 氏
    株式会社インパルス物理研究所
    所長
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会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
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主催

株式会社 トリケップス
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 45,150円 (税込)
1口
: 55,000円 (税別) / 57,750円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
  • 早期申込割引:
    2011年12月27日 17:00までのお申込は、
    1名受講・1口受講とともに受講料から10%割引となります。
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