FT-IR分析法は、電子顕微鏡では観察することが難しい微細な分子構造を、赤外光を照らしながら“影”を見て推定する手段です。
　本講座では、様々な材料に対する分析事例を通じて、“影”であるFT-IRスペクトルから情報を得て、材料開発やトラブル解決に活用するポイントについて解説します。また、FT-IR分析で出来ることだけでなく、測定出来ない場合の代替法についても提案します。製品検査、品質管理、機器分析を担当されている技術者の方のみならず、顧客相談窓口、営業の方にも役立つ内容です。

1. イントロ ～FT-IR分析で得られる情報と限界～
2. FT-IR分析とは?
   1. FT-IR分析の原理および特徴
   2. 装置の構成・メンテナンス
   3. 特性吸収ピークの発生
   4. 試料形態による測定法の選択
   5. 試料サンプリング
   6. 測定条件の設定
   7. 測定結果表示までのフロー
   8. スペクトルの連続取得
      • ライン分析
      • イメージングIR
3. スペクトルの解釈
   1. 正しいスペクトルが得られているか?
   2. スペクトルに現れる特徴とは?
   3. 官能基領域と指紋領域
   4. 解析から同定へのフロー
   5. ライブラリ検索
   6. ラマン分光法との比較・使い分け
   7. 正しい解析と正しい解釈
4. 様々な試料への適用例
   1. 溶液中の微小異物
   2. 劣化混入樹脂
   3. 多層材料
      • フィルム
      • インクジェット用紙
      • LCDパネル)
   4. 毛髪
   5. 樹脂の配向
      • 偏光測定
      • X線測定による支援
   6. インクジェット対応DVD-Rのインク受容層 (GC-MSによる支援)
   7. 潤滑剤 (NMRによる支援)
5. 新規なアプローチと応用
   1. ブレークスルーが必要な理由
   2. 放射光
   3. 近接場光
   4. 熱振動に基づく測定
6. まとめ
   1. 問題演習
   2. 個別相談
• 質疑応答・名刺交換