技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
自動外観検査の設備・装置導入及び運用の必須知識とノウハウ
自動外観検査の設備・装置導入及び運用の必須知識とノウハウ
～システム運用全般・機器基礎知識・検査基準の設定・うまく機能させる条件～
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
概要
本セミナーでは、自動外観検査と目視外観検査各々のポイントや得手不得手、役割分担など、事例を交えて実際の運用におけるノウハウについて解説いたします。
開催日
- 2015年10月14日(水) 10時30分 ～ 16時30分
受講対象者
- 品質保証を実務的に担う管理者・責任者 (品質管理・製造・技術など)
修得知識
- 外観検査を効果的に取り入れ不良低減するためのノウハウ
プログラム
製品を自動外観検査するために必要な知識の概要です。第1部では外観検査の概要と品質管理のシステム化などについて述べます。第2部では自動検査に関連する技術的な情報、つまり視覚や照明や光学系そして画像処理について解説し、それぞれ検査の目的に合致した方法を見つけるための知識をみにつけていただきます。第3部では、限度見本や検査基準の設定から、検査環境を改善し性能の維持・改善を図ること、ケーススタディーによる運用ノウハウなどを説明します。自動検査装置に使用される光源装置や撮像装置から画像処理装置、周辺装置に関する情報を提供します。
- 外観検査と品質管理の概要
- 検査・計測と品質管理・品質保証
- 品質管理システムとは? ～ 国際標準
- 外観検査とは? ～ 目的と効果
- 外観検査と画像検査の種別と効能
- 自動検査に関する技術
- ヒトの色覚・視覚
- 照明の技術
- 光学系の基礎
- 画像処理を用いた外観検査技術
- 自動検査の得手不得手
- 見本帳の作成から運用ノウハウ
- 品質見本帳の作成と評価尺度の設定
- 検査装置の能力判定と校正
- 検査装置の導入と運用
- 検査体制の構築 ～ 検査結果の活用
- マテリアルハンドリングの重要性
- 自動検査装置の構成要素実例
- 自動検査機器の実例集
- 質疑応用・名刺交換
講師
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
42,750円 (税別) / 46,170円 (税込)
複数名
:
22,500円 (税別) / 24,300円 (税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名同時申込みで1名分無料
- 1名あたり定価半額の22,500円(税別) / 24,300円 (税込)
- 2名様ともS&T会員登録をしていただいた場合に限ります。
- 同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
- 3名様以上のお申込みの場合、上記1名あたりの金額で受講できます。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。 - 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。
これから開催される関連セミナー
関連する出版物
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2025/3/31 | 生成AIによる業務効率化と活用事例集 |
| 2023/6/30 | 生産プロセスにおけるIoT、ローカル5Gの活用 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/12/31 | 機械学習・ディープラーニングによる "異常検知" 技術と活用事例集 |
| 2022/11/14 | 外観検査技術 (CD-ROM版) |
| 2022/11/14 | 外観検査技術 |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |