技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

アーク放電の基礎と除去・防止法

アーク放電の基礎と除去・防止法

~電気接点間の発生メカニズム、設計・製造における防止策~
東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、リレーやスイッチを利用した製品の技術者を対象に、アーク放電について基礎から解説し、アーク放電の除去・防止について詳解いたします。

開催日

  • 2014年3月24日(月) 10時30分16時30分

受講対象者

  • 電気接点を搭載した機器の設計、製造に携わる技術者
    • リレー・スイッチ
    • 電化製品、PCなどの電気機器
    • 携帯電話、各種情報端末などの情報通信機器
    • 自動車や新幹線などの輸送機械、輸送用機器
    • ロボットなど産業機械
    • 制御機器

修得知識

  • リレーやスイッチなどの中で発生するアーク放電の基礎
  • 開閉電気接点対で起こる諸現象の発生メカニズム
  • 実験データの解析考察を行う手順

プログラム

 対象として、電気接点を搭載した電磁リレーやスイッチの設計・製造、あるいはそれらを自動車、電気製品または情報通信機器などに組み込んで利用する技術者で、リレーやスイッチなどの中で発生するアーク放電について基礎的なことを知りたい、という皆様を想定しています。
 電気接点を損傷させる主要因としてのアーク放電の基礎的な性質と、その発生に至るまでの電気接点の接触現象について説明し、アーク放電現象の発生から消滅までのメカニズムを解説します。
 これらの基礎特性の解説を基に、実際の電磁リレーに搭載された電気接点の開閉実験で得られた転移突起の成長過程や、アーク放電の発光の様子を高速度カメラで撮影した画像や電圧・電流波形など、実験データを解析考察する手順を説明します。また、最近の実験データとして、直流高電圧回路の遮断時に発生するアーク放電の特性についても解説します。
 これらにより、電気接点対で起こる複雑怪奇な現象が、実は単純な事象の複合や連続発生で説明できることが示されますので、現象解明に生かして頂きたいと思います。

  1. 開閉電気接点対で起こる問題点と基礎的な現象
    1. 問題点
    2. スチッキング (分離不良)
    3. 接触抵抗の変動や増大
    4. 接触面の変形
    5. 放電 (接点間隙:分離、電気的:導電状態)
  2. リレーやスイッチに搭載された電気接点対での諸現象
    1. 閉成動作・開離動作期間中の機械的な諸現象
    2. 静止接触期間中の機械的な諸現象
    3. 静止接触期間中の電気的な諸現象
    4. 開離動作期間中の電気的な諸現象
    5. 閉成動作期間中の電気的な諸現象
  3. 開離電気接点間で発生するアーク放電の点弧・維持・消弧
    1. 直流回路内でのアーク放電の発生 (点弧)
    2. アーク放電内部の電圧分布
    3. 電圧-電流特性 (維持、消弧)
    4. 直流高電圧回路の遮断時に発生する開離時アーク放電の実例
    5. 消弧の対策例
  4. リレー搭載の電気接点対の損傷
    1. 抵抗負荷での閉成動作責務接点と開離動作責務接点の損傷
    2. アーク放電の長さと転移量との関係
  5. アーク放電の発生条件、除去・防止方法
    1. アーク放電の発生条件
    2. アーク放電の除去・防止
    3. 開離不良の防止
    4. 交流回路内の場合
  6. 電気接点間で起こる現象の解析例
    1. 閉成動作時の電圧波形
    2. 閉成動作時の電圧・電流波形の判定例
    3. 閉成動作時の電流波形の判定例 (接触状態)

会場

タイム24ビル

4F 研修室

東京都 江東区 青海2丁目4-32
タイム24ビルの地図

主催

お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 47,600円 (税別) / 49,980円 (税込)

割引特典について

  • R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
    • 1名でお申込みいただいた場合、1名につき45,000円 (税別) / 47,250円 (税込)
    • 2名同時にお申し込みいただいた場合、2名で47,600円 (税別) / 49,980円 (税込)
    • 案内登録をされない方は、1名につき47,600円 (税別) / 49,980円 (税込)
本セミナーは終了いたしました。

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/1/19 ウィスカに関する故障理論と故障メカニズム・対策 東京都 会場・オンライン
2026/1/21 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 オンライン
2026/1/22 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 オンライン
2026/1/22 外観検査の自動化技術とシステムの構築 オンライン
2026/1/22 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 オンライン
2026/1/23 半導体・論理回路テストの基礎と応用 オンライン
2026/1/26 食品の官能評価の基礎と手順・手法の勘所 オンライン
2026/1/26 半導体・論理回路テストの基礎と応用 オンライン
2026/1/26 外観検査 (2日間) オンライン
2026/1/26 AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度の向上 オンライン
2026/1/27 外観検査における目視検査 & 自動検査での品質チェック・ノウハウ オンライン
2026/1/27 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 オンライン
2026/1/28 ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 東京都 会場・オンライン
2026/1/28 中国工場での製品・部品不良の未然防止 中国企業とのトラブル・ミスコミュニケーション回避術 オンライン
2026/1/28 医薬品製造におけるヒューマンエラー・逸脱・インシデンツ事例と未然防止策 オンライン
2026/1/29 実務に役立つQFD (Quality Function Deployment:品質機能展開) の基礎と活用に向けた具体的ポイント 東京都 会場・オンライン
2026/1/29 デザインレビュー (DR) の基本とすすめ方、抜け漏れ防止策 オンライン
2026/1/30 半導体・回路素子における劣化寿命の故障モード・構造因子とその予測法 東京都 会場・オンライン
2026/1/30 医薬品製造におけるヒューマンエラー・逸脱・インシデンツ事例と未然防止策 オンライン
2026/1/30 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバスト最適化 / 非線形ロバストデザイン オンライン