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異物の混入分析・検知・原因解明技術

異物の混入分析・検知・原因解明技術

~異物の検出から分析、成分同定・原因解明までのフロー~
東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、各種製品・原材料中に混入する異物、その発生原因と防止策から、発生した場合の分析、原因解明まで広範な内容をカバーし、異物問題について、短時間で習得していただきます。

開催日

  • 2012年11月20日(火) 10時30分 16時30分

受講対象者

  • 異物混入対策が求められる製品の技術者、品質担当者、管理者
    • 工業用途
      • 精密機械
      • 半導体製造
      • 電子機器・エレクトロニクス
      • 液晶工場
      • ガラス・光学加工
      • プラスチック成形
      • 塗装
      • フィルム加工
    • 医療用途
      • 研究室
      • 無菌室
      • 手術室
    • 食品用途
      • 調理場
      • 製造ライン
    • 製薬工場
    • バイオハザード施設
    • 動物実験施設
    • RI (環境) 施設
  • 異物分析の担当者、オペレータ
  • 異物分析に携わる方

修得知識

  • 異物の基礎・種類
  • 異物の検知
  • 異物分析の前処理
  • 分析機器の特徴
  • 異物混入の原因特定と対策

プログラム

 各種製品・原材料中に混入する異物について、その発生原因と防止策から、発生した場合の分析、原因解明までのフローまで広範な内容をカバーし、問題解決を支援します。
 異物問題の全てについて、短時間で理解できます。製品検査、品質管理、分析・組成解析等を担当されている技術者の方、ならびに顧客相談窓口、営業の方にも役立つ内容です。
 異物分析については、単なる技術的説明に止まらず、測定に必要な情報収集から前処理、最適な手法の選択、解析方法について、具体的事例を基にわかりやすく解説します。
 セミナの最後に異物分析相談会を実施します。 異物混入でお困りのサンプル、写真等をお持ち下さい。その場で測定法のご提案、分析可否の判断、分析依頼についてのご相談などお受け致します。

  1. なぜ異物は発生するのか? (被害防止拡大のために)
    1. 異物の定義・種類
    2. 異物発生事例および要因
  2. 異物の検知 (見えない異物をどのように捕らえるか?)
    1. 光学顕微鏡、その他検知法
    2. X線マイクロCT
  3. 検知した異物を分析する前に
    1. 事前の情報収集
    2. 異物の分野ごとの特徴
  4. 異物分析の前処理
    1. 異物の性状確認 (簡易識別)
    2. サンプリングと必要なツール
  5. 分析機器の原理・特徴および組み合わせ
    1. EPMA、顕微IR、XRD、その他代表的手法
    2. 測定フローと結果の解釈
  6. 分析結果から正確な組成情報を得るには?
    1. 原因解明への道程
    2. 同定結果が異物の組成と直結しないケース
  7. 質疑応答「個別相談会※」
    • ※ セミナー終了後に、ご希望の方を対象に行います。
    • ※ 受講者の方には、主催より事前に相談シートをお送りします

講師

  • 末広 省吾
    株式会社 住化分析センター 大阪ラボラトリー 技術開発センター
    主幹部員

会場

品川区立総合区民会館 きゅりあん

5F 第1講習室

東京都 品川区 東大井5丁目18-1
品川区立総合区民会館 きゅりあんの地図

主催

お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 42,667円 (税別) / 44,800円 (税込)
複数名
: 35,667円 (税別) / 37,450円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
  • 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)
本セミナーは終了いたしました。

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