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「中国工場での製品・部品不良の未然防止 中国企業とのトラブル・ミスコミュニケーション回避術」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/3/30 医薬品開発における安定性試験実施のポイント オンライン
2026/4/1 医薬品開発における安定性試験実施のポイント オンライン
2026/4/10 化学工場・プラントの事故事例に学ぶ本質的原因の探究と管理・指導側が講じるべき安全対策 オンライン
2026/4/14 信頼性加速試験の進め方と設計・寿命予測への活かし方 オンライン
2026/4/16 不良ゼロへのアプローチ オンライン
2026/4/17 加速試験の各種理論とそれに基づく加速係数の求め方と寿命予測・試験法・バーンインへの展開 東京都 会場・オンライン
2026/4/17 医薬品製造の品質強化に向けたヒューマンエラーの予防対策 オンライン
2026/4/20 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/4/20 品質管理の基礎 (1) オンライン
2026/4/20 医薬品製造の品質強化に向けたヒューマンエラーの予防対策 オンライン
2026/4/21 非GLP試験での信頼性基準試験におけるリスクベースドアプローチを用いた信頼性保証 オンライン
2026/4/21 はじめての品質対応 オンライン
2026/4/22 電気・電子機器の信頼性と安全性、発火防止における原理・原則と具体策 オンライン
2026/4/23 信頼性加速試験の進め方と設計・寿命予測への活かし方 オンライン
2026/4/24 FMEA・DRBFMの基礎と効率的・効果的な活用法の具体的ポイント 東京都 会場・オンライン
2026/4/24 QCラボにおけるLIMS/電子実験ノートの導入・運用におけるCSV/DI対応 オンライン
2026/4/24 中国NMPAの海外化粧品製造工場査察対策と最新規制情報 オンライン
2026/4/27 生産委託先工場 & 中国自社工場の品質管理・改善の進め方 東京都 会場・オンライン
2026/4/27 明日からできる統計的因果推論 オンライン
2026/4/27 明日からできる統計的因果推論 オンライン
2026/4/27 品質管理の基礎 (2) オンライン
2026/4/28 ヒューマンエラー (ポカミス) の未然防止・撲滅の考え方と効果的なポカヨケの進め方 オンライン
2026/5/11 設計プロセスにおけるデジタル技術と生成AIの活用法 オンライン
2026/5/11 品質管理の基礎 (3) オンライン
2026/5/12 電気・電子機器の信頼性と安全性、発火防止における原理・原則と具体策 オンライン
2026/5/12 不良予測と予兆診断、予知保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント オンライン
2026/5/13 AIエージェントの基礎と業務導入のポイント オンライン
2026/5/15 品質管理の基礎 (4) オンライン
2026/5/18 本当に使えるFMEA・DRBFMの活用法 オンライン
2026/5/18 中国NMPAの海外化粧品製造工場査察対策と最新規制情報 オンライン

関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2024/4/15 テンセント (騰訊Tencent) 〔中国特許および日本特許〕技術開発実態分析調査報告書 (日本語版)
2024/4/15 テンセント (騰訊Tencent) 〔中国特許および日本特許〕技術開発実態分析調査報告書 (日本語版) (CD-ROM版)
2024/3/11 アリババ (阿里巴巴 Alibaba) 〔中国特許および日本特許〕技術開発実態分析調査報告書 (日本語版) (CD-ROM版)
2024/3/11 アリババ (阿里巴巴 Alibaba) 〔中国特許および日本特許〕技術開発実態分析調査報告書 (日本語版)
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2009/1/16 世界のエンジニアリング樹脂
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験