ナノ粒子の実用化とともに分散・凝集特性評価やその制御技術の基礎ともいえる界面特性評価への需要が高まりつつある。
　とくに情報電子材料分野やエネルギー関連分野での需要が急速に高まりつつある。
　このような系では有機溶媒が依然として活用され、粒子径もナノ領域にあるものもあり、その関係で従来のスモルコフスキ―式を基礎とするゼータ電位測定の適用限界も見えてきた。
　本講では現行の一般的な分散性評価法の現状・限界、および最先端の手法の紹介を行い、すぐに先端材料にも適用できる手法の提案について述べる。
　また、分散剤の有効性を調べる手法としてNMR法や遠心沈降分析法など実用材料開発に役立つ新規手法についても解説する。

1. 分散・凝集の基礎
   1. 分散安定性の定義とは?
   2. 分散・凝集特性とゼータ電位の果たす役割
2. 先端実用材料に対する分散性評価
   1. 実用先端材料開発における評価手法の現状と将来像
   2. 分散安定性に関する基礎理論の適用と実際
      ～ゼータ電位による評価の限界～
   3. 高濃度分散系の対する評価手法 I
      ～遠心沈降分析法による評価～
   4. 高濃度分散系の対する評価手法 II
      ～超音波スぺクトロスコピーによる評価～
3. 先端実用材料に対する粒子/溶媒界面特性評価
   1. 分散・凝集の制御と界面特性評価
      ～粒子/溶媒界面特性評価の必要性～
   2. 電位差滴定法を用いた粒子/溶媒界面特性評価
   3. 遠心沈降分析法を用いた粒子/溶媒界面特性評価
   4. パルスNMRを用いた粒子/溶媒界面特性評価
• 質疑応答・名刺交換