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「品質リスクマネジメントにおける具体的・実践的なリスク抽出方法」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/8/10 開閉接点・摺動接点・接続接点の接触理論と故障モード・メカニズムならびにその対策 オンライン
2026/8/13 生成AIを活用した実験計画法とその妥当性検証法 オンライン
2026/8/14 品質管理の基礎 (4) オンライン
2026/8/18 承認申請書との齟齬を防ぐ医薬品開発・製造段階で発生する変更対応のポイント オンライン
2026/8/18 事故や失敗事例から学ぶHAZOP実践講座 オンライン
2026/8/18 生産現場を把握し、生産性・品質改善へ繋げるための考え方と進め方 オンライン
2026/8/20 設計FMEA/工程FMEAの具体的な進め方 オンライン
2026/8/20 生成AIで真因に迫り上流まで遡る新なぜなぜ分析の進め方 オンライン
2026/8/20 逸脱・不備・不整合からのCAPA運用・手順・管理と逸脱防止対策 オンライン
2026/8/20 非GLP試験での信頼性基準試験におけるリスクベースドアプローチを用いた信頼性保証 オンライン
2026/8/20 生産現場を把握し、生産性・品質改善へ繋げるための考え方と進め方 オンライン
2026/8/21 逸脱・不備・不整合からのCAPA運用・手順・管理と逸脱防止対策 オンライン
2026/8/24 生成AIを活用した実験計画法とその妥当性検証法 オンライン
2026/8/24 ヒューマンエラー・逸脱・GMP違反を防ぐSOP・製造指図記録書の作成と記録ミスを削減させるための工夫 オンライン
2026/8/24 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/8/24 品質管理の基礎 (3) オンライン
2026/8/24 はじめての品質対応 オンライン
2026/8/25 電子機器の故障メカニズムの実態理解と未然防止・故障解析の実務 オンライン
2026/8/25 洗浄バリデーションの実務とDHT・CHT設定/評価法 オンライン
2026/8/25 医薬品工場における攻めの設備保全 オンライン
2026/8/25 不良予測と設備の予兆保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント オンライン
2026/8/25 はじめての品質対応 オンライン
2026/8/26 品質工学 (タグチメソッド) 実践入門 オンライン
2026/8/26 持続的にGMPレベルの上昇およびQuality Cultureを醸成する5分間GMPと現場確認 オンライン
2026/8/26 洗浄バリデーションの実務とDHT・CHT設定/評価法 オンライン
2026/8/26 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の故障解析・絶縁劣化評価と信頼性確保 オンライン
2026/8/26 不良予測と設備の予兆保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント オンライン
2026/8/26 新製品の「量産立ち上げ」における品質トラブル未然防止と生産準備・製造準備の進め方 オンライン
2026/8/26 AI活用による機能性評価プログラム オンライン
2026/8/27 製造現場におけるヒューマンエラー対策の実践法 オンライン
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関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2023/5/26 グローバル展開・3極規制要件の違いをふまえたRMP (日本/欧州) ・REMS (米国) 策定とリスク設定・対応
2023/5/26 グローバル展開・3極規制要件の違いをふまえたRMP (日本/欧州) ・REMS (米国) 策定とリスク設定・対応 (製本版 + ebook版)
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/11/21 医療機器企業におけるリスクマネジメントセミナー (オンデマンド)
2019/11/21 医療機器企業におけるリスクマネジメントセミナー (DVD)
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/9/2 原薬・中間体製造プロセスにおける課題と対策
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験
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