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「品質リスクマネジメントにおける具体的・実践的なリスク抽出方法」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/7/16 火力発電ボイラの耐熱材料トラブルと寿命予測 オンライン
2026/7/16 監査員の立場からみるGMP違反を防ぐ教育訓練とQuality Culture醸成 オンライン
2026/7/16 周辺視目視検査法の進め方と実施法 オンライン
2026/7/16 異物ゼロへのアプローチ オンライン
2026/7/21 製造業のための4M管理デジタル化入門 オンライン
2026/7/22 微粒子・微生物の環境モニタリング測定方法と留意点 オンライン
2026/7/22 開閉接点・摺動接点・接続接点の接触理論と故障モード・メカニズムならびにその対策 東京都 会場・オンライン
2026/7/22 製造業のための4M管理デジタル化入門 オンライン
2026/7/23 GMP/GQP文書の作成、管理、データインテグリティ対応 オンライン
2026/7/23 AI技術を活用した効率的かつ効果的な品質管理方法のアプローチ オンライン
2026/7/24 未然防止のためにFTAを効率的に使いこなすポイント 東京都 会場・オンライン
2026/7/24 品質管理の基本と応用の実践 2日間講座 オンライン
2026/7/24 品質管理の応用と実践 オンライン
2026/7/24 外観検査のデジタル化・自動化 オンライン
2026/7/27 外観検査のデジタル化・自動化 オンライン
2026/7/28 産業現場のAI機械学習による異常検知予知の実例集 オンライン
2026/7/28 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/7/28 品質管理の基礎 (2) オンライン
2026/7/28 臨床試験におけるICH E8 (R1), E6 (R3) 改訂に準拠した品質管理 (Quality by Design) 実装のポイント オンライン
2026/7/29 臨床試験におけるICH E8 (R1), E6 (R3) 改訂に準拠した品質管理 (Quality by Design) 実装のポイント オンライン
2026/7/30 不良ゼロへのアプローチ 東京都 会場・オンライン
2026/7/30 ワイブル解析の基礎と結果の解釈および実務上の注意点 オンライン
2026/7/30 産業現場のAI機械学習による異常検知予知の実例集 オンライン
2026/7/31 製造現場における正常/異常判定の考え方とデータ解析結果の使いこなし方 オンライン
2026/8/5 信頼性試験・加速試験の基礎と寿命予測への応用 オンライン
2026/8/6 信頼性試験・加速試験の基礎と寿命予測への応用 オンライン
2026/8/7 失敗しない技術移転にむけたリスク洗い出しと許容基準、バリデーション戦略、移転後パフォーマンス評価 オンライン
2026/8/13 生成AIを活用した実験計画法とその妥当性検証法 オンライン
2026/8/14 品質管理の基礎 (4) オンライン
2026/8/17 AI技術を活用した効率的かつ効果的な品質管理方法のアプローチ オンライン

関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2023/5/26 グローバル展開・3極規制要件の違いをふまえたRMP (日本/欧州) ・REMS (米国) 策定とリスク設定・対応
2023/5/26 グローバル展開・3極規制要件の違いをふまえたRMP (日本/欧州) ・REMS (米国) 策定とリスク設定・対応 (製本版 + ebook版)
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/11/21 医療機器企業におけるリスクマネジメントセミナー (オンデマンド)
2019/11/21 医療機器企業におけるリスクマネジメントセミナー (DVD)
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/9/2 原薬・中間体製造プロセスにおける課題と対策
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験