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フィルム製膜における延伸・配向制御、その評価と応用

フィルム製膜における延伸・配向制御、その評価と応用

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概要

本セミナーでは、フィルム製膜について取り上げ、応力、変形挙動、厚み精度、表面構造とフィルム物性との相関性、テンション制御、延伸温度と速度、溶融粘度の条件最適化、 衝撃性低下、透明性低下、破断現象、肌荒れ、偏肉、ボーイング、ネッキング、ドローレゾナンス等、各種トラブルと対策について詳解いたします。

開催日

  • 2022年7月27日(水) 10時30分 ～ 17時10分

プログラム

第1部 フイルム延伸における分子配向・構造発現 – 制御技術と応用例 –

(2022年7月27日 10:30〜12:30)

  1. はじめに
  2. フイルム成形の基本技術
    1. 分子配列制御技術
    2. 表面・界面制御技術
    3. 材料設計・制御技術
  3. フイルム延伸における現象~構造
    1. 2軸延伸における高次構造変化
    2. 2軸延伸におけるボーイング現象
    3. 延伸による複屈折率発現
    4. 二重配向性と分子構造
    5. 延伸発熱と高次構造
    6. 一軸延伸とフイルムの収縮率発現
    7. 延伸による表面構造の発現
  4. おわりに
    • 質疑応答

第2部 フィルムシート成形における品質安定化技術

(2022年7月27日 13:20〜14:30)

　光学フィルムをはじめとするフィルムシート成形において、厳しくなる要求品質を満たすためには、各装置の特性を理解し最適な操作が必要とされる。
　本講演では、各成形装置による高品質化への技術と対策を紹介する。

  1. フィルムシート成形技術の最近の動向
  2. フィルムシート成形装置の概要
    1. 押出機
    2. ダイ
    3. キャスティング装置
    4. 延伸機
    5. 巻取機
  3. 押出機の未溶融や熱劣化防止
  4. ダイの不良・不安定現象の対策
  5. キャスティングのネックイン、シート厚み解析
  6. 延伸工程のフィルム安定化技術
    • 質疑応答

第3部 Tダイの構造とフィルム押出成形技術

(2022年7月27日 14:40〜15:50)

  1. Tダイ
    1. Tダイの種類
    2. 内部マニホールド設計
    3. リップ調整ボルトの構造とチョークバー調整ボルトの構造
    4. ヒータ温調の考え方
    5. ダイの精度の考え方
  2. フィードブロック
    1. フィードブロックの利点
    2. フィードブロックの種類
    3. 分流弁の例
    4. フローコントロールピンの役目
    5. 3Dモデルによる流路の可視化
    6. 各種フィードブロックの特徴
  3. マルチマニホールドダイ
    1. マルチマニホールドダイの利点
    2. マルチマニホールドダイの種類
    3. 3Dモデルによる流路の可視化
    4. フィードブロックとマルチマニホールドダイの分類
  4. 特殊な金型事例 (図面を例にして、説明する)
    • 質疑応答

第4部 赤外・ラマン分光法によるフィルム延伸・配向結晶性の解析と応用

(2022年7月27日 16:00〜17:10)

　赤外分光・ラマン分光はいずれも分子振動を測定し、化学構造を明らかにする手法である。
　本講座ではまず、赤外分光法・ラマン分光法の基本的な原理および一般的な測定事例を紹介する。さらに、フィルムの評価に必要不可欠な分子配向の評価手法について、複数の測定法の特徴と具体的なサンプル評価例を中心に解説する。

  1. 赤外 (IR) 分光法とラマン分光法の原理
    1. 赤外分光法の原理
    2. ラマン分光法の原理
    3. 赤外分光法とラマン分光法の比較
  2. FT-IRを用いた主な測定手法・配向測定事例
    1. 偏光子による透過測定でのフィルムの配向評価
    2. 偏光ATR付属品によるフィルムの3次元的配向評価
    3. 各種アプリケーション事例
    4. 赤外顕微鏡による微小領域のフィルムの配向評価
  3. ラマン分光光度計を用いた主な測定手法・配向測定事例
    1. フィルムの深さ方向・ポリマーの結晶化度測定
    2. ラマン測定と偏光
    3. フィルムなどの偏光測定
    4. フィルムの配向測定
    • 質疑応答
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講師

  • 石原 英昭 氏
    P&P リサーチ
    代表
  • 富山 秀樹 氏
    株式会社 日本製鋼所 広島製作所 技術開発部
    部長
  • 横田 新一郎 氏
    アクスモールディング 株式会社
    代表取締役
  • 田村 耕平 氏
    日本分光 株式会社 光分析ソリューション部 ソリューション技術課
    課長代理
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主催

株式会社 技術情報協会
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お問い合わせ

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: 60,000円 (税別) / 66,000円 (税込)
複数名
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  • 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 55,000円(税別) / 60,500円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 60,000円(税別) / 66,000円(税込)
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    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 165,000円(税別) / 181,500円(税込)
  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 他の割引は併用できません。

アカデミック割引

  • 1名様あたり 30,000円(税別) / 33,000円(税込)

日本国内に所在しており、以下に該当する方は、アカデミック割引が適用いただけます。

  • 学校教育法にて規定された国、地方公共団体、および学校法人格を有する大学、大学院、短期大学、附属病院、高等専門学校および各種学校の教員、生徒
  • 病院などの医療機関・医療関連機関に勤務する医療従事者
  • 文部科学省、経済産業省が設置した独立行政法人に勤務する研究者。理化学研究所、産業技術総合研究所など
  • 公設試験研究機関。地方公共団体に置かれる試験所、研究センター、技術センターなどの機関で、試験研究および企業支援に関する業務に従事する方
  • 支払名義が企業の場合は対象外とさせていただきます。
  • 企業に属し、大学、公的機関に派遣または出向されている方は対象外とさせていただきます。

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