技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
本セミナーでは、自社の課題に有効な手法を選択・活用できるようになることを主眼に、異常診断技術の本質や考え方、異常診断に活用される機械学習手法とMTシステムの基礎と応用、異常診断技術の適用事例などを解説いたします。
AI・IoT技術の進展に伴い、製造業においても多くの企業で技術導入に向けた取り組みが活発です。実際に手を動かしている方は痛感していることが多いかと思いますが、AI技術に対して過度な期待や誤解も多く、データを蓄積し機械学習を適用すれば、劇的な改善が期待できると考えておられる方も少なくありません。
実際の現場において、AI技術を活用するためには最新の優れた手法のみに着目するのではなく、課題の整理、適切なセンシング・データ採取、必要十分な解析手法の選択・適用といった基本的なアプローチこそが重要となります。
そこで、本セミナーでは異常検知の分野において、長年の実績を有するMTシステムや機械学習 (深層学習) 手法をJuter Notebookを使いながら基礎からビジュアルに解説し、各手法の長所・短所に関して基本的な理解を深めていただきます。また、適用事例としてAE (Acoustic Emission) センサを用いた回転機械の状態モニタリングおよび異常診断について紹介いたします。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/9/24 | FT-IRの基礎と機械学習によるスペクトルデータ解析 | オンライン | |
| 2026/9/24 | 電子部品・材料の故障解析技術 | オンライン | |
| 2026/9/28 | 機械学習のための効率的データ取得とAIモデルの解釈・評価 | オンライン | |
| 2026/9/28 | FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 | オンライン | |
| 2026/9/28 | FT-IRの基礎と機械学習によるスペクトルデータ解析 | オンライン | |
| 2026/9/28 | 製薬業におけるCMC・製造領域のデータ・AI活用 | オンライン | |
| 2026/9/29 | 検査員の意識改革と検査業務改善の進め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/9/29 | 機械学習のための効率的データ取得とAIモデルの解釈・評価 | オンライン | |
| 2026/9/29 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/9/29 | 機械学習を利用した多成分混合物の物性予測・物性推算 | オンライン | |
| 2026/10/2 | トヨタに学ぶ変化点管理とDRBFMの実践 | オンライン | |
| 2026/10/2 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/10/2 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
| 2026/10/6 | 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 | オンライン | |
| 2026/10/7 | FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 | オンライン | |
| 2026/10/7 | 試験部門 (QC) におけるデータの電子化とインテグリティ対策 | オンライン | |
| 2026/10/7 | 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 | オンライン | |
| 2026/10/8 | ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験、リテスト期間/有効期間の予測方法と統計学的解析による設定方法 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 異物ゼロへの実践メソッド | 東京都 | 会場・オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2013/6/21 | 機械学習によるパターン識別と画像認識への応用 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1993/3/1 | 新しいサーボ制御の基礎と実用化技術 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |