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表面・界面状態の分析技術

表面・界面状態の分析技術

～測定法の種類、原理、測定の実際～
東京都 開催 会場 開催
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開催日

  • 2019年4月4日(木) 10時00分 ～ 17時00分

プログラム

　試料の表面・界面の形態観察、元素分析、物質の同定・化学結合の状態解析を行う数多くの手法が存在する。
　本講座では、これらの手法を原理から統一的に理解し、試料に応じた最適な分析手法を選択するための指針を与える。また、特に広く用いられている光電子分光法、振動分光法、原子間力顕微鏡による試料測定の実際について紹介する。

  1. 表面・界面分析技術
    1. 物質・材料と表面・界面
      1. 原子から構築される表面・界面
      2. 固体の基本的性質
      3. 機器分析と表面・界面分析
    2. プローブからみた表面・界面分析
      1. 光をプローブとする手法
      2. 電子をプローブとする手法
      3. イオンをプローブとする手法
    3. 波としてのプローブ
      1. X線回折
      2. 電子線回折
    4. 局所分析
      1. 投影型顕微鏡
      2. 走査型顕微鏡
    5. 表面・界面分析と真空技術
  2. 各論 (1) 光電子分光法
    1. 光電子分光法事始め
    2. 電子の分光
    3. 真空紫外光電子分光法
    4. X線光電子分光法
    5. 光電子分光法のニューウエーブ
  3. 各論 (2) 振動分光法
    1. 振動スペクトルによる化学結合の状態解析
    2. 赤外分光法
    3. ラマン分光法
  4. 各論 (3) 走査プローブ顕微鏡
    1. 走査型トンネル顕微鏡
    2. 原子間力顕微鏡
    3. 走査プローブ顕微鏡のニューウエーブ
    • 質疑応答
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講師

  • 野副 尚一 氏
    産業技術総合研究所
    招聘外来研究員
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会場

株式会社 技術情報協会
東京都 品川区 西五反田2-29-5 日幸五反田ビル8F
株式会社 技術情報協会の地図
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主催

株式会社 技術情報協会
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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 50,000円 (税別) / 54,000円 (税込)
複数名
: 45,000円 (税別) / 48,600円 (税込)

複数名同時受講割引について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 45,000円(税別) / 48,600円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 50,000円(税別) / 54,000円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 90,000円(税別) / 97,200円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 135,000円(税別) / 145,800円(税込)
  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 他の割引は併用できません。
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